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北京工业大学,闫鹏飞,钴酸锂失效机理的电子显微学分析,价态变化:引起离子活性变化,在表面界面处发生氧化还原反应。成分改变:晶体结构的热力学不稳定,发生相变。晶格畸变:引起材料体积改变,引入应力应变,发生力学失稳。
北京工业大学,闫鹏飞,钴酸锂失效机理的电子显微学分析,价态变化:引起离子活性变化,在表面界面处发生氧化还原反应。成分改变:晶体结构的热力学不稳定,发生相变。晶格畸变:引起材料体积改变,引入应力应变,发生力学失稳。 收起+
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