工作原理
仪器通过微型X射线管发射高能X射线,激发被测铜合金样品中的原子内层电子跃迁,释放出特征X射线荧光。高分辨率硅漂移探测器(SDD)捕获这些荧光信号后,结合多变量算法与标准谱库比对,实现多元素同步定量分析。其核心优势在于无需复杂前处理,直接对固体样品进行无损检测,且检测结果不受样品形态影响,确保数据准确性。
应用范围
冶金行业:检测铜合金铸锭、线材等产品的元素配比,确保材料性能符合标准。
电子电气:验证连接器、接插件中铜合金的导电性与弹性,保障产品可靠性。
汽车制造:监控发动机、传动系统等部件的铜合金材料成分,避免因元素偏析导致的性能下降。
废旧金属回收:快速分类含铜合金废料,提升回收价值与效率。
产品技术参数
X射线源:微型铍窗X射线管,电压50kV,电流100μA,阳极靶材可选Ag/Rh。
探测器:高分辨率SDD,能量分辨率<145eV,计数率>200,000cps。
测量范围:Cu(50%-99.9%),Zn(0.1%-40%),其他元素检测下限至0.01%。
尺寸与重量:500mm×400mm×300mm,主机净重25kg,适合实验室台式使用。
环境适应性:工作温度10℃至35℃,湿度≤80%,适应实验室稳定环境。
数据库:内置ASTM、GB等标准铜合金牌号库,支持自定义牌号添加。
产品特点
高精度与稳定性:采用双束光路设计与温度补偿技术,确保长期检测精度稳定性。
智能软件:搭载MetalXpert分析系统,支持自动校准、光谱拟合及报告生成,操作门槛低。
安全防护:三级辐射屏蔽设计,表面辐射剂量<0.1mRad/h,通过CE、RoHS认证。
多模式扩展:可选配真空腔体,提升轻元素检测灵敏度,扩展应用场景。
高效散热系统:内置智能温控风扇,确保仪器长时间稳定运行。