本实用新型涉及芯片技术领域，公开了一种芯片测试装置及包括其的芯片分选机，芯片测试装置包括底座、连接板和测试座，连接板设于底座上，用于与芯片分选机电连接，测试座设于底座上，测试座与连接板电连接，测试座具有用于放置芯片的测试槽。基于上述结构，当需要对个别芯片单独测试或者需要对单个芯片重复测试时，将连接板与芯片分选机电连接，将芯片放入测试槽内即可对该芯片进行单独测试，测试较为方便，测试工序简单，测试时长较短，不影响芯片分选机的正常运行和产品的产出。

本实用新型提供了一种转盘式芯片分选机X、Y模组机构，属于芯片分选机技术领域，包括X轴模组机构和Y轴模组机构。本实用新型实施例中，通过第二电机带动Y轴丝杆转动，利用Y轴丝杆带动Y轴螺母座上的固晶台支座做前后移动，从而带动固晶台上的X模组作前后移动，通过第一电机带动X轴丝杆转动，利用X轴丝杆带动X轴螺母座上的晶圆垫板使其作上下移动，通过Y轴、X轴两个方向的相互配合运动，从而来实现取放晶圆芯片、三点对位、吸嘴清洁、摆臂取放芯片动作相应移动。