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本实用新型涉及芯片技术领域，公开了一种芯片测试装置及包括其的芯片分选机，芯片测试装置包括底座、连接板和测试座，连接板设于底座上，用于与芯片分选机电连接，测试座设于底座上，测试座与连接板电连接，测试座具有用于放置芯片的测试槽。基于上述结构，当需要对个别芯片单独测试或者需要对单个芯片重复测试时，将连接板与芯片分选机电连接，将芯片放入测试槽内即可对该芯片进行单独测试，测试较为方便，测试工序简单，测试时长较短，不影响芯片分选机的正常运行和产品的产出。
陕西 - 西安
2024年06月28日 ~ 30日
