本发明公开一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置,其包括激发光源、探测装置、样品台、激光辅助分析装置、分析器及电路输出设备。本发明的优点在于:够快速、有效的样品定位及面积、厚度监测,克服样品的厚度、面积变化对全反射光学的影响,提高TXRF测量准确度。采用全反射X射线荧光分析原理,能够快速检测样品中痕量重金属的含量,简单快捷并且低成本;精度高,测量时间短,人为误差小,操作者劳动强度低;本发明X荧光测重金属仪无化学污染、无放射性污染、测量时间短、精度高、结构简单、安全可靠,使用方便。
声明:
“激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)