本发明公开了一种X荧光对埋弧渣钙、硅、镁、铁测定的方法,包括S1:材料准备阶段:S11:埋弧渣试样的制备:S111:按GB/T10322.1标准对埋弧渣进行取样、制样操作,接着将
振动筛的电源与外界电源相连接,接着将挑选出来的埋弧渣倒入振动筛中进行筛分,其中振动筛的网眼为120目;S112:将干燥器的电源与外界电源相连接。该X荧光对埋弧渣钙、硅、镁、铁测定的方法,此方法通过将埋弧渣样品置于铂黄金坩埚中进行熔融,样品在高温下能与高纯熔剂反应,融成玻璃片状的样品,经X荧光仪测定其强度,经制好的工作曲线计算出样品的百分含量,使得此技术无需分别检测各个化学成分,多种化学成分可同时测定,进而极大的节省检测时间,有效的提高了检测效率。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)