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球差电镜测试
球差电镜测试
JEM-ARM200F差校正透射电镜,拥有STEM-HAADF像分辨率(63PM),标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式。对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。用于纳米科学、材料科学、生命科学等领域的科研项目。
型号:JEM-ARM200F
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工作原理
技术参数
选型原则
应用案例
设备结构
    JEM-ARM200F差校正透射电镜可用于成分,形貌,结构分析测试。获得样品表面形貌,粒径等相关信息。用于获得明、暗场像的衬度像进行分析。直接观察晶体样品中轻元素的原子阵列,还可以同时获取STEM-HAADF像,极大增强观察、分析能力。原子像,选区电子衍射,会聚束电子衍射;对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。
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