工作原理
采用先进的X射线荧光光谱技术(XRF),通过高能X射线激发样品表面原子,使其发射特征荧光光谱,结合高精度硅漂移探测器(SDD)捕获光谱信号,实现多元素快速定量分析。
应用范围
仪器广泛应用于冶金、采矿、电子电器、建材及环保等领域。在冶金行业,可快速分析锰合金中Mn、Fe、Cr等元素含量,优化生产工艺;在采矿领域,支持矿石中Mn、Se、Cu、Zn等元素的品位检测,指导开采计划;在电子电器行业,满足RoHS指令对Pb、Cd、Hg等有害物质的管控需求;建材行业可用于水泥、玻璃中K、Ca等成分分析;环保领域则可检测土壤、水质中的重金属污染。
产品技术参数
检测元素范围:Mg(12号)至Pu(94号),支持定制滤光系统
分辨率:≤149±5eV
检测下限:Se元素≤2ppm,Mn元素≤5ppm(视基质而定)
检测时间:快速模式≤2秒,高精度模式≤200秒
探测器:SDD硅漂移探测器,光管寿命≥15000小时
环境适应性:工作温度-20℃~50℃,湿度0-95%(不结露)
数据存储:内置2GB SD卡,支持GPS绑定及无线蓝牙传输
产品特点
便携高效:整机重量<1.5kg,支持电池热插拔,野外连续工作8小时;
智能分析:内置多元素分析软件,支持自定义工作曲线,提升检测精度;
安全防护:IP54防护等级,通过辐射安全认证,操作安全可靠;
数据互联:支持Excel、PDF格式报告导出,可接入企业ERP系统。