工作原理
基于X射线荧光光谱分析技术。设备通过内置的高压微型X射线管激发样品表面元素,产生特征X射线荧光信号,再经SDD硅漂移探测器接收并转换为电信号,最终通过智能算法解析出元素种类及含量。
应用范围
该设备广泛应用于陨石鉴定、地质勘探、矿产资源评估及环境监测领域。在陨石研究中,可快速检测铁、镍、硅、铝等主要元素及微量放射性元素(如铀、钍),辅助判断陨石类型与来源;地质勘探中支持矿石品位分析、岩芯成分鉴定及污染物质筛查;环境监测领域则可检测土壤、水体中的重金属污染。
产品技术参数
设备尺寸为245×250×88mm,重量小于1.5kg,采用40kV/100mA大功率X射线管,检测范围0%~99.99%。内置气压计可自动补偿海拔变化,确保检测结果准确;Peltier恒温冷却系统维持探测器在-35℃稳定工作,延长使用寿命。工业级TFT触摸屏支持中文/英文界面,数据可通过蓝牙传输至GIS数据采集手簿,实现GPS坐标与元素含量的同步记录。
产品特点
高精度与稳定性:SDD探测器计数率达200,000cps,较传统Si-Pin探测器提升10倍,确保轻元素(如Mg、Al)检测的灵敏度。
便携性与耐用性:铝合金外壳与槽式散热设计适应-20℃~50℃极端环境,IP65防护等级防尘防水,适合野外作业。
智能化操作:一键式按钮设计结合用户化Windows CE 6.0系统,支持现场查看光谱图、调整分析模式(如Mining Plus模式检测Mg、Al、Si等10种元素)。
安全与便捷:内置加速器可探测运动状态,实现“拿起即用、放下待机”;智能接驳座支持热插拔电池,无需关机即可更换电源。