工作原理:
基于X射线断层扫描成像技术。设备通过微焦点X射线源发射锥束射线穿透样品,数字平板探测器接收衰减信号后,由计算机重建算法生成三维体数据集,空间分辨率最高可达0.5μm,密度分辨率优于1%。
应用范围:
设备应用范围覆盖航空航天、汽车制造、电子封装及新材料研发领域。
产品技术参数:
设备支持160kV/180kV双电压模式,最大电流0.5mA,最小焦点尺寸1.5μm,探测器像素尺寸139μm,成像范围427×427mm。最大承重10kg,可检测样品直径320mm、高度500mm,辐射泄漏剂量<1μSv/h,符合国家辐射防护标准。
产品特点:
一键式操作界面降低使用门槛,支持多工况参数预设;可选配多种射线源与探测器组合,适应不同材料检测需求;设备提供180天交付周期,并配备12个月整机质保服务。