工作原理:
该仪器基于能量色散X射线荧光光谱技术(EDXRF),通过高压X射线管激发样品表面,使被测元素原子内层电子跃迁并释放特征X射线。仪器采用高分辨率Si-PIN探测器捕捉特征射线能量,结合多变量非线性回归算法,同步实现元素含量定量分析与厚度计算。
应用范围:
产品覆盖电子电器、汽车制造、金属加工及环保检测四大领域。
产品技术参数:
元素检测范围:硫(S)至铀(U),重点元素检出限≤2ppm;
厚度测量范围:0.01-10mm(金属),精度±0.005mm;
测量时间:30-180秒可调;
探测器类型:原装电致冷高性能Si-PIN探测器;
激发源:40kV/50mA X射线管,6档滤光片自动切换;
样品腔尺寸:Φ450×90mm,支持不规则形状样品;
防护等级:全封闭机箱设计,辐射剂量≤1μSv/h。
产品特点:
一机双能:同步完成RoHS元素检测与金属厚度分析,提升检测效率;
智能校准:内置基体效应校正模型,自动匹配金属材质参数;
数据管理:支持20,000组数据存储,可导出至PC端生成分析报告;
安全防护:三重安全联锁装置,配备紧急制动按钮与红外感应防护。