工作原理:
通过X射线管发射高能X射线,激发样品表面镀层与基材的原子特征荧光。
应用范围:
该仪器广泛应用于航空航天、汽车制造、电子电路及新能源领域。
产品技术参数:
测量范围:0.1μm至100μm(单层镀层),支持多层镀层叠加分析;
检测时间:合金分析≤3秒,镀层测厚≤120秒;
分辨率:可检测0.1μm级超薄镀层,误差≤1%;
工作温度:-10℃至50℃,适应复杂工业环境;
显示方式:高清触摸屏,支持人机交互与数据可视化;
接口协议:提供开放式协议,支持无缝接入MES系统。
产品特点:
高精度与智能化:采用自主ULS光路系统与薄膜FP法软件,实现多层镀层成分与厚度同步分析;
安全防护:配备自动感知距离与关断功能,防辐射结构模组有效屏蔽杂散射线;
模块化设计:支持定制化解决方案,满足不同行业差异化需求;
高效便捷:一键测试与自动校准功能,显著提升检测效率。