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日立X射线荧光镀层测厚仪

日立X射线荧光镀层测厚仪

105
规格/型号:FT110
品牌:日立
应用领域:分析检测
产地:广东 - 深圳
厂家/供应商:深圳市谱赛斯科技有限公司
咨询电话::156 5224 2441(请说明信息源自“中冶有色网”)
更新时间:2025-05-29
级别:待认证

日立X射线荧光镀层测厚仪说明介绍

日立


工作原理:

基于X射线荧光技术:X射线管发射的高能射线穿透样品表面,与镀层元素原子内层电子发生相互作用,激发特征X射线荧光。


应用范围:

广泛应用于电子制造、汽车零部件、航空航天及珠宝检测等领域。


产品技术参数:

配备空冷式X射线管,管电压50kV可调,管电流10-1000μA,采用比例计数管探测器。准直器提供0.1mm、0.2mm两种规格,搭配CCD摄像头实现样品图像5-7倍放大,定位精度达±0.01mm。设备支持原子序号22(Ti)至83(Bi)元素检测,符合ISO 3497、ASTM B568等国际标准。


产品特点:

1)3秒自动对焦技术,消除人工误差;

2)薄膜FP法软件实现无标样测量,可同时分析5层10元素镀层;

3)广域样品观察功能,支持250×200mm区域图像定位;

4)测量速度提升50%,10秒内完成50nm极薄镀层检测;

5)成本降低20%,兼具高性价比。设备配备样品室门联锁、冲突防止等安全机制,确保操作安全。


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