计算机断层扫描(CT)
仪器型号:Zeiss Metrotom 800;GE Phoenix v|tome|xm等
CT是计算机断层成像技术的简称 ,它能在对检测物体无损伤条件下,以二维断层图像或三维立体图像的形式 ,在不破坏样品的情况下,利用X射线对物体进行扫描,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部 结构、组成 、材质及缺损状况。纳米、微米CT适用于小尺寸样品高分辨率的检测;工业CT适合大尺寸样品检测。
CT成像原理
当X射线穿过样品时,样品内部的不同材质、孔洞、缺陷部分对X射线的吸收率不同,后端探测器接收到的信号不同,由此可以通过图像差异区分出不同的结构。CT技术(计算机断层扫描技术)正是基于这一穿透性差异,在将样品旋转360°获得全方位切片投影图像后,利用重构算法将样品的内部结构三维可视化。