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谐振腔法高温介电温谱测试仪

谐振腔法高温介电温谱测试仪

151
规格/型号:XZQ-5000型
品牌:精科智创
应用领域:检测设备
产地:北京 - 北京
厂家/供应商:北京精科智创科技发展有限公司
咨询电话::15810615463(请说明信息源自“中冶有色网”)
更新时间:2025-06-10
级别:待认证

谐振腔法高温介电温谱测试仪说明介绍

XZQ-5000型谐振腔法高温介电温谱测试仪

XZQ-5000型谐振腔法高温介电温谱测试仪


谐振腔法是一种重要的材料测量方法,具有广泛的应用前景。随着科技的不断发展,谐振腔法将会在材料科学、电子工程、通信技术等领域发挥越来越重要的作用。XZQ-5000型谐振腔法高温介电温谱测试仪是为中低损耗材料、均质材料、小样品测试等需求而开发的一款高精度高性价比的材料测试平台。融合矢量网络分析仪和试夹具于一体,可进行30MHz到110GHz频率范围内的微波复介电常数测试。该系列产品精度高、接口丰富,在科研实验中能发挥十分重要的作用。

主要特点:

1、测试精度高,速度快

2、频率范围:0.1~110.0GHz

3、系统配置简单,易操作,测量软件简单易用,自动化程度高

主要技术参数:

1、频率范围:0.1~110.0GHz

2、测试温度:-50~1750℃

3、电磁参数测试范围:er'=1.0~100,tanoc=1.0×10-4~5×10-2ur'=0.1~10.0,tanou=1.0×103~1.0

一、谐振腔微扰法测试设备

频率范围:0.1~40.0GHz测试温度:室温~1750℃复介电常数测试范围:

cr'=1.0~30.0

tan&e=2.0×10-~5×102ur'=0.5~10

tanou=0.001~1.0常温测试误差:

|Asr'/er'\≤1.5%当sr'=2.0~30.0

Acr'|≤2.0%×cr'+0.02当r'=1.05~2Atanoe≤15.0%tano8+2.0x10-4

Aur'/ur'\≤5.0%

Atanou|≤15%tanou+5.0x10-4样品尺寸:

圆棒或方棒状小样品材料,直径:1.0~6.Omm,高度不低于30mm;

(实际尺寸视具体情况而定)

2、高Q腔法测试设备

频率范围:2.0~7.0GHz、7.0~18.0GHz测试温度:室温~1600℃

复介电常数测试范围:

cr'=l~10

tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常温测试误差:

|Acr'/cr'\≤2.0%当sr'=2~10

Acr'|≤1.8%xEr'+0.02当sr'=1.05~2Atanoe|≤15%tanoe+1.0×10-4

样品尺寸:

2.0~7.0GHz

圆片材料直径:150.0mm,厚度:3.0~10.Omm

7.0~18.0GHz

圆片材料直径:50.0mm,厚度:1.5~3.0mm

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