工作原理:
基于X射线荧光光谱分析技术(XRF)。仪器内置微型X射线管发射高能射线,激发样品表面原子内层电子跃迁。当外层电子填补空位时,释放出具有元素特征能量的荧光X射线。高灵敏度硅漂移探测器(SDD)捕捉这些荧光信号,通过内置算法与数据库比对,快速解析元素种类及含量,实现无损、快速的材料成分分析。
应用范围:
金属材料检测:快速鉴别合金牌号(如不锈钢、铝合金),检测金属杂质含量;
环保与安监:筛查土壤、水质中的重金属(铅、镉、汞等)污染;
制造业质检:控制原材料成分,保障焊接、涂层等工艺质量;
文保与考古:无损分析文物材质,辅助年代鉴定与修复方案制定;
矿产勘探:现场分析矿石品位,优化采矿选矿流程。
产品技术参数:
检测元素:覆盖镁(Mg)至铀(U)之间40余种元素,支持自定义扩展;
能量分辨率:≤140eV(Mn Kα),可精准区分相近元素;
X射线管:5-50kV可调电压,200μA最大电流,适应不同材质激发需求;
检测速度:常规分析≤3秒,支持快速筛查模式;
防护设计:IP54防护等级,抗跌落1.2米,适应恶劣环境。
产品特点:
便携高效:整机重量仅1.3kg,单手可持,电池续航达8小时,满足全天候户外作业;
智能操作:5英寸触控屏搭配直观界面,支持语音指引与自动诊断功能;
精准校准:内置智能校准模块,一键完成标准化,减少人为误差;
数据管理:支持无线传输、云端存储及报告生成,兼容Excel/PDF格式导出;
本土化服务:提供中文软件界面及24小时技术响应,售后网络覆盖全国。