工作原理:
基于X射线荧光光谱分析技术(XRF)。当仪器内置的高能X射线管发射出的X射线与样品原子碰撞时,原子内层电子被驱逐产生空穴,使原子体系不稳定。外层电子向空穴转移时,释放出具有元素特征能量的X射线荧光。高灵敏度BOOST型Si-PIN探测器捕捉这些荧光信号,并将其转化为电信号。仪器通过内置算法与数据库比对,快速解析出元素的种类和含量,实现无损、快速的材料成分分析。
应用范围:
在废旧金属回收领域,可快速鉴别金属材质和成分,提高回收效率;在金属加工制造行业,对原材料及零部件进行成分检测,确保产品质量符合标准;在航空航天领域,用于关键零部件的合金成分分析,保障飞行安全;在石化、电力等行业,可对设备材质进行可靠性鉴别(PMI),防止因材质问题导致的安全事故;在考古领域,能无损分析文物材质,辅助年代鉴定与修复方案制定。
产品技术参数:
该仪器可分析从镁(Mg)到铀(U)之间的多种元素,检测范围广泛。激发源为50KV/200uA,管压管流可自由调节,采用Ag靶材(标准),Au、W、Rh靶可选配。探测器为BOOST型Si-PIN探测器,具有较高的分辨率和灵敏度。仪器尺寸为254×79×280mm,重量1.6Kg(配置电池),便于携带。配备工业级电阻触摸屏,屏幕尺寸4.3英寸,操作方便。
产品特点:
体积小、重量轻,方便携带至各种现场。操作界面简洁直观,一键式操作,即使非技术人员也可轻松掌握。仪器具备智能电池管理系统,可实时监控电池剩余容量,单个电池可持续工作8小时左右。内置DoubleBeam™技术,自动感知仪器前方有无样品,提高射线安全性。同时,仪器具有强大的数据存储和管理功能,支持多种数据格式输出,方便用户进行数据分析和报告生成。