工作原理:
基于X射线与目标涂层的相互作用:仪器发射低能X射线轰击样品表面,激发涂层元素(如铬、镍、锌、铜等)的特征荧光X射线,通过高灵敏度探测器捕获荧光信号,结合内置算法分析能量谱线强度,精准计算涂层厚度。
应用范围:
应用于汽车制造、电子电器、航空航天、五金卫浴、新能源及科研机构等领域,适用于镀锌钢板、镀铬件、阳极氧化铝、PCB线路板、光伏组件及精密零部件的涂层厚度检测。
产品技术参数:
测量范围:0.005μm-100μm(视涂层材质与基材类型)
测量精度:±(1-3%读数)(标准工况下,具体取决于元素与厚度)
重复性:≤0.5%(同一测量点连续10次测量)
元素分析:可检测10-92号元素(Mg至U),覆盖常见涂层金属
测量时间:5-30秒/点(可调),支持快速扫描模式
显示方式:7英寸高清触摸屏,支持中英文界面与实时数据曲线
数据管理:内置100,000组数据存储,支持USB/Wi-Fi导出至Excel或PDF报告
电源:AC 220V±10%,50/60Hz,可选配锂电池续航模块
防护等级:主机IP54,X射线安全符合GB18871-2002标准
产品特点:
高精度与多元素分析:采用硅漂移探测器(SDD)与微型X射线管,分辨率≤145eV,可区分多层涂层厚度与成分。
智能校准与操作:一键自动校准,内置200+种标准样品数据库,支持自定义校准曲线。
非接触式无损检测:无需制样,最小测量区域0.2mm²,适配微小零部件与精密结构。
便携与耐用设计:主机重量3.8kg,军工级三防外壳,适应车间与实验室双场景。
云端数据管理:支持Wi-Fi连接企业MES系统,实现检测数据实时上传与追溯。