工作原理:
采用低功率X射线管(如铑靶或银靶)发射高能X射线,穿透样品表面并激发镀层及基材中的原子内层电子跃迁。当外层电子填补空位时,释放特征X射线荧光,其能量与元素种类一一对应,强度与元素含量成正比。设备内置高分辨率硅漂移探测器(SDD)捕捉荧光信号,通过多道脉冲分析器(MCA)解析能量谱图,结合基本参数法(FP)或经验系数法(EC)计算镀层厚度(0.005μm-100μm)及元素百分比。针对多层镀层结构,设备可自动剥离各层信号,实现逐层分析。
应用范围:
电子行业:检测PCB电路板金/镍/钯镀层、连接器镀锡层、半导体封装镍钯金(ENEPIG)厚度;
汽车制造:评估发动机零部件镀铬层、刹车系统镀锌层及电泳漆膜厚度;
五金卫浴:测量水龙头、门锁等五金件的镀镍、镀铬层厚度及耐腐蚀性;
珠宝首饰:鉴定贵金属镀层(如K金镀铑)的厚度与成分均匀性;
航空航天:分析航空发动机叶片热障涂层(TBC)的氧化钇稳定氧化锆(YSZ)层厚度。
产品技术参数:
分析元素范围:Mg(镁)至U(铀),覆盖常见镀层金属(如Cr、Ni、Cu、Zn、Ag、Au、Pt等);
厚度测量范围:0.005μm-100μm(依材料密度与元素差异调整);
检测精度:厚度≤1μm时误差±3%,厚度>1μm时误差±1%;
分析时间:5-120秒可调(依精度需求);
X射线管参数:最大管压50kV,最大管流1mA,空气比释动能率<1μSv/h(符合安全标准);
探测器:高分辨率SDD探测器,能量分辨率≤145eV(Mn Kα);
显示与操作:7英寸彩色触摸屏,支持中英文界面,内置数据库可存储≥10万组数据;
电源与尺寸:AC 100-240V,主机尺寸380mm×320mm×150mm,重量≤12kg。
产品特点:
非破坏性检测:无需制样,直接测量成品表面,避免传统方法对样品的损伤;
快速精准:单次测量仅需数秒,重复性误差<0.5%,满足生产线在线检测需求;
智能分析软件:内置材料库与校准曲线,一键生成厚度报告(含成分比例与统计图表);
便携设计:轻量化机身与锂电池供电选项(选配),支持现场移动检测;
安全合规:配备多重安全联锁装置,X射线泄漏量低于国际标准限值,操作人员无需特殊防护。