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X射线衍射仪
X射线衍射仪
X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
型号:BRUCKER D8 ADVANCE
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工作原理
技术参数
选型原则
应用案例
设备结构
    X射线衍射仪是适合测试粉末样品、块状固体等,主要应用于混合物相的定性分析;样品的对照分析;晶体物相的半定量分析;材料晶体结构的表征分析;结晶度分析等,面向化学、药物、材料、农林、化工、环境、生化、矿物、地质、冶金、半导体等领域。
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