工作原理:
EDX1800通过高压电源激发X光管产生初级X射线,照射样品后激发特征X荧光。电制冷Si-Pin探测器捕获荧光信号并转换为数字信号,结合专业软件(如FP基本算法、经验系数法)进行定性定量分析,可同时解析多层镀层结构及元素组成。
应用范围:
该仪器广泛应用于地矿、电子/电池、纺织/印染、电气等领域,适用于矿石成分分析、合金成分鉴定(如铜、不锈钢)、金属镀层厚度测量、电镀液含量测定,以及贵金属(金、铂、银)和首饰的含量检测。
产品技术参数:
元素分析范围:硫(S)至铀(U)
分析含量:2ppm至99.99%
能量分辨率:144±5eV
检测限:2ppm
样品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
仪器尺寸:550mm×410mm×320mm
电源:交流220V±5V
工作温度:15-30℃
探测器类型:SDD(部分型号)或电制冷Si-Pin
准直器与滤光片:支持多规格电动切换
产品特点:
多层分析能力:可解析复杂镀层结构,如钕铁硼磁铁表面的多层镀层。
无损检测:支持固体、粉末、液体样品,无需复杂前处理。
高效测试:配备大功率X光管,检测时间短(60-200秒/次)。
安全设计:全封闭式金属机箱、防泄漏保护开关、自动安全防护开关。
操作便捷:500万像素彩色CCD观察样品图像,支持自动谱线识别与多元素同时分析。
精密结构:短光路设计、风冷系统提升稳定性,延长X光管寿命。