工作原理:
依托X射线穿透特性与计算机图像处理技术:在高压电作用下,X射线管发射高能射线穿透被测工件,因工件内部结构密度差异(如气孔、裂纹、夹杂等)对射线的吸收程度不同,在探测器上形成对比度差异的影像。
应用范围:
该设备广泛应用于电子制造、汽车零部件、航空航天及金属铸造等领域,适用于PCB电路板、BGA封装、IC芯片、锂电池极片及铸件等高精度产品的内部缺陷检测。
产品技术参数:
射线源电压:90kV-130kV(可调)
射线源功率:5W-30W(可选)
空间分辨率:4.0LP/mm
成像尺寸:160mm×130mm
防护等级:封闭式柜体设计,辐射剂量趋近自然本底水平
操作模式:支持手动/自动双模式,兼容MES系统对接
产品特点:
高灵敏度与稳定性:采用一体化高频X射线发生器,故障率降低30%,成像清晰度提升40%。
智能化分析:内置AI缺陷识别算法,误判率<1%,支持锡球空占比测算与图像拼接功能。
安全防护:双重安全保护装置(软件+硬件),配备十字光标定位与声光报警功能。
模块化设计:支持光源、探测器等组件快速更换,维护成本降低25%。