工作原理:
设备通过128通道控制系统独立激发32个压电晶片,采用电子时序控制各晶片发射超声波的延迟时间,使声束在空间中形成动态聚焦与偏转。通过A/B/P/TOFD四种成像模式(线性扫查、截面成像、扇形扫查及衍射时差法),可实时生成被检工件内部缺陷的二维/三维图像,灵敏度达Φ0.5mm通孔级缺陷,适用于复杂几何结构工件的检测。
应用范围:
该系列设备广泛应用于航空航天、石油化工、核电及轨道交通领域。
产品技术参数:
通道数:128通道独立控制,支持32晶片同步激发
采样频率:100MHz,确保信号高保真度
成像模式:A/B/P/TOFD四模式切换,支持全聚焦3D成像
检测范围:0-10000mm(钢中纵波),分辨率>40dB
声速范围:1000-15000m/s,适应多种材料检测
防护等级:IP65,适应潮湿、粉尘环境
产品特点:
高精度与稳定性:采用全矩阵采集技术,缺陷定位误差≤±0.1mm;
智能化操作:支持自动扫查与数据存储,兼容MES系统对接;
多模态分析:集成缺陷尺寸量化与趋势预测功能,提升检测效率;
安全环保:全封闭设计减少辐射泄漏,配备漏电保护装置。