工作原理:
基于X射线锥束扫描与迭代重建技术:设备通过高稳定性微焦点X射线源(焦点尺寸≤0.5μm)发射锥形X射线束,穿透样品后被高灵敏度平板探测器(像素尺寸≤4.95μm)接收,样品在精密旋转台(分辨率0.001°)上以360°旋转扫描,采集多角度投影数据;通过FDK滤波反投影算法与深度学习重建模型,生成分辨率达50nm的三维体数据,可清晰解析材料内部孔隙、裂纹、晶界及纤维分布等微观特征。
应用范围:
应用于材料研发与失效分析场景,包括锂离子电池电极材料孔隙结构表征、增材制造金属零件内部缺陷筛查、生物组织(如骨骼、牙齿)三维成像、半导体封装微裂纹检测,以及碳纤维复合材料界面结合强度评估。
产品技术参数:
X射线源:微焦点管(最高电压160kV,功率15W),焦点尺寸≤0.5μm
探测器:2048×2048像素平板探测器,像素尺寸4.95μm,动态范围16bit
分辨率:空间分辨率50nm(体素尺寸),密度分辨率≤0.5%
扫描参数:旋转角度0°-360°,步进0.05°-1°,单次扫描时间10-120分钟
样品台:承重≤5kg,XYZ三轴平移精度1μm,温度控制范围-40℃-150℃(可选)
重建算法:FDK反投影+AI深度学习降噪,支持GPU加速
数据输出:支持DICOM、STL、VTK等格式,兼容Avizo、Dragonfly等分析软件
设备尺寸:主机1200mm×800mm×1800mm,重量≤800kg
电源与环境:AC 220V±10%,50Hz,功耗≤3kW,温湿度15℃-30℃/30%-70%RH
产品特点:
超高分辨与低剂量:0.5μm焦点与4.95μm像素探测器组合,实现50nm级分辨率,同时通过AI降噪降低辐射剂量30%。
多模态成像:支持吸收对比度与相位衬度成像,适配轻元素材料(如聚合物、生物组织)分析。
原位观测能力:可选配环境控制模块,实现充放电、热循环、力学加载等过程的实时三维成像。
智能化分析:集成AI缺陷识别与孔隙率统计工具,一键生成量化分析报告。
紧凑高效设计:桌面级尺寸与模块化结构,实验室空间占用小,维护成本低。