单点开尔文探针
单点开尔文探针是一种高精度、非接触、非破坏性的振动电容装置,专门用于测量导电材料的功函或
半导体材料表面的表面电势和表面功函。这种技术对材料表面最顶部的1-3层原子或分子非常敏感,因此是一种极其灵敏的表面分析方法。KP Technology公司提供的单点开尔文探针系统具有业界最高的分辨率,功函分辨率小于3meV,支持手动高度调节。它广泛应用于有机和非有机半导体、金属、薄膜、
太阳能电池、有机
光伏材料以及腐蚀研究等领域。此外,该设备还可选配多种升级附件,包括大气光子发射系统、表面光电压系统(QTH或LED)、SPS表面光电压光谱(400-1000nm)、不同直径的金或不锈钢探针,以及相对湿度控制和氮气环境箱,以满足多样化的研究需求。
单点开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势,表面功函。由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。
主要特点:
● 功函分辨率< 3meV
● 手动高度调节
应用领域:
● 有机和非有机半导体
● 金属
● 薄膜
● 太阳能电池和有机光伏材料
● 腐蚀
升级附件:
● 大气光子发射系统
● 表面光电压(QTH or LED)
● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
● 金或不锈钢探针,直径0.05mm to 20mm
● 相对湿度控制和氮气环境箱