工作原理
INSIGHT通过微聚焦X射线管发射高能X射线,照射至样品表面后激发镀层元素产生特征荧光X射线。能谱探头接收荧光信号并转换为电脉冲,经数据处理器分析后,根据元素特征峰强度与能量计算镀层厚度及成分比例。设备配备多准直器系统,可自动切换光斑尺寸(最小可达50μm),适应不同尺寸样品的检测需求。针对多层镀层结构,仪器采用智能分层算法,逐层剥离并分析各层厚度与成分,确保数据准确性。
应用范围
电子元器件:检测PCB电路板、连接器、引线框架的镀金、镀镍、镀锡层厚度。
五金卫浴:测量水龙头、阀门等零件的镀铬、镀锌层厚度。
珠宝首饰:分析贵金属饰品(如金、银、钯)的镀层均匀性与厚度。
汽车制造:监控发动机零部件、紧固件的防腐镀层质量。
半导体封装:检测引线框架的微米级镀层厚度,确保封装可靠性。
技术参数
测量范围:0.01μm-100μm(单层),支持≥5层复合镀层分析
分辨率:0.001μm
精度:±(2%H+0.02)μm(H为实际厚度)
元素检测范围:钛(Ti)至铀(U)
探测器:大面积Si-PIN探测器,分辨率优于145eV
准直器:可选配50μm、100μm、300μm等多种规格
显示与操作:10.1英寸触摸屏,支持中英文界面
数据接口:USB、以太网、蓝牙,支持MES系统对接
产品特点
非破坏性检测:X射线荧光技术无需接触样品,避免划痕或污染。
快速分析:单点测量仅需30秒,支持连续扫描模式。
智能软件:内置自动对焦、模式识别与多点程序功能,简化操作流程。
灵活适配:C型槽设计支持大尺寸样品(如PCB板),电动平台可选配实现自动化检测。
安全可靠:符合GB/T 16597-1996标准,配备辐射防护装置与紧急停止按钮。