工作原理
PeDX G5采用能量色散型X射线荧光光谱技术,内置高性能微焦点X射线管与Si-PIN探测器。设备发射高能X射线照射样品表面,激发样品中原子产生特征荧光X射线,探测器接收信号后,通过内置算法解析光谱特征峰强度与能量,结合Super-FP校正算法与标准数据库,实时计算金属元素含量。仪器支持垂直光路设计,配备500万像素高清摄像头,可精准定位微小样品,确保检测区域准确性,同时具备自动温度补偿功能,适应复杂环境。
应用范围
珠宝行业:检测首饰成色、镀金层厚度及杂质含量,支持万足金(AU9999)至十万足金(AU99999)的纯度分析。
黄金回收:快速评估回收金饰、金条的纯度与价值,提高回收效率。
贵金属加工:监控生产过程中的原料纯度与成品质量,减少废品率。
典当与拍卖:为贵金属典当、拍卖提供权威成分鉴定报告。
技术参数
元素检测范围:镁(Mg)至铀(U),覆盖贵金属及常见杂质元素。
检测精度:±0.03%(999金),杂质元素(如Ag、Cu)检测极限达10ppm。
能量分辨率:<136eV,确保轻元素(如Mg、Al)分析准确性。
检测时间:单点测试1-3秒,连续扫描模式支持每分钟30次检测。
数据存储:内置32GB存储器,支持PDF/EXCEL格式报告导出。
防护等级:IP54,适应-20℃至50℃环境,防尘防水。
尺寸与重量:200mm×200mm×268mm,4.6kg,便携性优异。
产品特点
无损检测:无需样品预处理,保持材料完整性。
智能操作:一键式分析,非技术人员可快速上手。
多场景适配:支持蓝牙打印机、无线数据传输,满足现场与实验室需求。
安全可靠:配备射线防护装置与紧急停止按钮,符合国际安全标准。
定制化服务:提供用户自定义校准与报告模板,支持企业品牌标识嵌入。