工作原理
A350采用能量色散型X射线荧光光谱(ED-XRF)技术。仪器内置微型低功率X射线管,通过高压激发产生特征X射线,照射样品表面后,样品中的原子受激发释放出次级X射线荧光。高灵敏度硅漂移探测器(SDD)实时捕获荧光信号,经多道分析器(MCA)转换为数字谱图,再通过智能算法校正基体效应与谱线干扰,最终输出元素种类及含量。整个过程无需制样、无化学污染,单次检测仅需2-5秒,支持实时结果显示与数据存储。
应用范围
金属加工:原材料成分验证、焊接接头材质匹配、热处理效果评估;
废旧回收:废旧金属分类分级、贵金属含量快速筛查;
航空航天:发动机叶片、涡轮盘等高温合金成分分析;
电力能源:锅炉管道、阀门等设备材质鉴定及腐蚀监测;
文博考古:青铜器、金银器等文物金属成分溯源与年代推断。
技术参数
元素检测范围:Mg(12)~U(92);
检测限:50-1000ppm(视元素及基体而定);
管电压/电流:5-40kV/0-50μA可调;
探测器:高性能SDD,分辨率<150eV;
分析时间:2-300秒(用户自定义);
防护等级:IP65(防尘防水),适应恶劣工业环境。
产品特点
极致便携:人体工学设计,单手可握,支持长时间户外作业;
智能分析:内置2000+合金牌号库(覆盖ASTM、DIN、GB等标准),自动匹配材质;
精准稳定:动态基体校正技术,重复性误差<0.1%,数据可靠性高;
安全耐用:三级辐射屏蔽,通过CE/FCC认证,-10℃~50℃宽温域工作;
数据互联:支持Wi-Fi/蓝牙传输,兼容Excel、PDF格式报告生成。