工作原理
仪器基于布拉格衍射定律(2dsinθ=nλ),利用X射线与晶体材料的相互作用。当单色X射线照射样品时,晶体中规则排列的原子使X射线产生衍射,形成特定空间分布的衍射峰。探测器捕获衍射信号后,结合专业软件分析衍射峰位置、强度及形状,通过数据库比对与算法计算,确定材料的物相组成、晶胞参数及原子排列方式。其核心技术包括θ/θ高垂直测角仪设计、高分辨率探测器及智能数据处理系统,确保检测精度与效率。
应用范围
材料科学研究:分析金属、陶瓷、高分子等材料的晶体结构、相变行为及残余应力,优化材料性能。
地质勘探:快速鉴定矿石矿物种类,分析土壤与岩石中的矿物组成,辅助资源评估。
生物医药:筛查药物多晶型,评估晶型稳定性,确保药品质量与疗效。
工业质量控制:监控薄膜涂层、电子元器件的晶体质量,检测金属材料内部缺陷。
考古与文化遗产保护:无损鉴定文物材质,分析古代陶瓷、金属的制造工艺。
产品技术参数
测角仪系统:θ-θ立式测角仪,衍射圆半径150mm,2θ角度范围-3°至+150°。
角度精度:全谱范围内<±0.02°偏差,分辨率<0.04°2θ(FWHM)。
探测器:高分辨率探测器,支持Cu、Co等多种靶材X射线源。
样品兼容性:支持粉末、块状及薄膜样品,最小检测量15mg(粒径<150μm)。
仪器尺寸:580mm×450mm×680mm(L×W×H),重量120kg,适用实验室固定安装。
电源与功耗:220V±10V,50Hz,整机功率1000W。
产品特点
高精度与稳定性:采用θ-θ测角仪与闭环控制系统,确保长期检测精度重复性。
智能分析软件:配备专业数据处理包,支持物相自动鉴别、结晶度计算及应力分析,一键生成检测报告。
多场景适配性:可选配马弗炉、自动进样器等附件,实现原位高温/环境相变追踪。
安全防护设计:三级辐射屏蔽结构,表面辐射剂量<0.1mRad/h,符合国家安全标准。
扩展性与兼容性:支持反射/透射双模式,兼容30位自动样品交换器,提升检测通量。