权利要求书: 1.一种薄膜测厚仪的精度调整装置,包括底座(13),所述底座(13)的上侧固定连接有测厚仪本体(1),所述底座(13)的下侧固定连接有支脚(14),所述测厚仪本体(1)的上侧贯穿设有测量杆(3),所述测量杆(3)的下端固定连接有测量装置(15),其特征在于,所述底座(13)的上侧固定连接有放置板(2),所述测厚仪本体(1)的内部设有控制腔(4),所述底座(13)的上侧设有用于对待检测物体进行清洁的清洁机构,所述测厚仪本体(1)的侧壁设有用于固定待检测物体的固定机构。
2.根据权利要求1所述的一种薄膜测厚仪的精度调整装置,其特征在于,所述清洁机构包括固定连接在测量杆(3)侧壁上的控制板(6),所述控制板(6)位于控制腔(4)的内部,所述测厚仪本体(1)的侧壁设有通气槽(5),所述通气槽(5)与控制腔(4)相连通,所述测厚仪本体(1)的内顶部设有两个清洁管(7),所述清洁管(7)与控制腔(4)相连通,所述清洁管(7)的下端套接有喷头(8)。
3.根据权利要求2所述的一种薄膜测厚仪的精度调整装置,其特征在于,所述固定机构包括固定连接在测量杆(3)侧壁上的两个安装板(9),所述安装板(9)的上侧贯穿设有按压杆(12),所述按压杆(12)的上端固定连接有固定板(10),所述固定板(10)的下侧通过两个弹簧(11)与安装板(9)的上侧弹性连接。
4.根据权利要求2所述的一种薄膜测厚仪的精度调整装置,其特征在于,所述控制板(6)的横截面呈圆形结构,所述控制板(6)的侧壁与控制腔(4)的内侧相抵设置。
5.根据权利要求3所述的一种薄膜测厚仪的精度调整装置,其特征在于,两个所述按压杆(12)呈对称设置,所述按压杆(12)的下端固定连接有缓冲垫。
6.根据权利要求2所述的一种薄膜测厚仪的精度调整装置,其特征在于,两个所述喷头(8)呈对称设置,所述喷头(8)呈朝测量装置(15)方向向下倾斜设置。
说明书: 一种薄膜测厚仪的精度调整装置技术领域[0001] 本实用新型涉及测厚仪技术领域,尤其涉及一种薄膜测厚仪的精度调整装置。背景技术[0002] 薄膜测厚仪,又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料
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我是此专利(论文)的发明人(作者)