合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法

基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法

777   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:38
本发明涉及一种基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法,包括:对于某种颗粒物质,选取已知颗粒粒度的各组颗粒物质,每组颗粒物质为相同颗粒粒度的颗粒物质,采集已知颗粒的各组颗粒物质的二维拉曼光谱;截取每组颗粒物质的特征拉曼谱峰;利用二维数据拟合方法获取特征拉曼谱峰的数学表达式;提取特征拉曼谱峰的半峰宽度W;拟合出颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式;对于待测量颗粒粒度的此种颗粒物质,采集其二维拉曼光谱,按照上述二维数据拟合分析的步骤,得到其半峰宽度W,然后,根据颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式,实现颗粒粒度P的测量。本发明可以简单、快速、无损地测量出物质的颗粒粒度。
声明:
“基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记