本发明提出一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法,在测试区L两端设两个固结区,将多个电阻应变片Yi两端固结在测试对象上;在测试区L范围内,每个电阻应变片Yi的长度为Li‑1<Li≤Li‑1(1+δ)(i=2,...,i,...n),δ表示电阻应变片有效测试应变量程。当第i个电阻应变片Yi失效时,第i+1个电阻应变片Y1+1进入测试状态;变形测试数据为应变片Yi数据叠加Yi起始点同一时间点的Yi‑1末端数据,以此类推完成大变形检测。本发明将电阻应变片小变形测试优势拓展到大变形测试领域,能够提高大变形检测精度、拓展大变形检测范围,有很好的应用市场前景。
声明:
“继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)