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苏州谦通仪器设备有限公司推出的20吨链条拉力试验机是一款专为链条、索具及金属连接件设计的高精度力学性能测试设备，采用全数字闭环控制与高强度机械结构，可精准完成拉伸、断裂强度等试验，广泛应用于链条制造、起重运输、冶金矿山及质量检测领域，是保障产品安全可靠性的关键工具。
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IIT-200仪器化压入试验机（压痕仪）是一款用于测量材料在压头压力作用下压入载荷和深度曲线的高精度设备。它采用龙门结构机架，具有高刚性和稳定性，支持大范围试验力（3-200公斤），力值误差小于1%，压头行程不小于5毫米，位移分辨率高达0.1微米。设备支持多样化的压头选择和定制化加卸载控制方式，可设置加载曲线、调整加载速率，并在设定载荷或深度处进行卸载或重新加载。主要配置包括主机、计算机和控制软件，选配件包括体视显微镜及测量软件，适用于材料力学性能研究和检测。
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IIM-20P便携式压痕法力学性能测试仪，用于在线服役结构件的力学性能的无损检测。
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IPT-200压痕法力学性能测试仪是一款用于测量材料力学性能的高精度设备，通过压头的压力作用，测量压入载荷和深度曲线，并转化为应力-应变曲线，从而确定材料的洛氏硬度、维氏硬度、布氏硬度、弹性模量、应变硬化指数、屈服强度和抗拉强度等性能指标。设备采用龙门结构机架，位移分辨率高达0.1微米，压头下移速度可设定，载荷量程达2000N，精度优于0.5%。支持多种压头类型和定制化加卸载控制方式，满足GB/T 39635-2020标准，广泛应用于材料性能检测和研究。
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EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点，可高速获得高分辨率的三维图像，并且在微纳米和亚纳米尺度上实时观察纳米级力的相互作用，与常规SEM/FIB兼容，并与EDS, EBSD, WSD兼容。
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ParkNX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比，高真空测量具有准确度好、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点，因此用户可测量各种故障分析应用中许多信号响应，例如扫描扩散电阻显微术(SSRM)的掺杂物浓度。ParkNX-Hivac使得真空环境中高精确度和高分辨率测量的材料科学研究远离氧气与其它药剂的影响，在高真空条件下执行扫描扩散电阻显微镜测量可减少所需的针尖-样本相互作用力，从而降低对样本和针尖的损伤。
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ParkSystems的PTR系列是针对全自动工业级线上的原子力显微镜解决方案，适用于（不限于）长形条、磁头万向节组件(HGA)级滑块以及单滑块的沉降自动测量。凭借着亚纳米级精确度、高重复精度以及高通量，PTR系列是滑块厂商提高整体产量的理想测量工具，硬盘驱动滑块制造业要求工具不仅可以快速且流畅地测量较为尖沉降，同时还要保证高标准的精确度。这便是ParkNX-PTR大展身手的领域。在超精确的较为尖沉降测量之外，自动化功能可较为大程度提高效率。
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LiteScope™扫描探针显微镜（SPM），便于集成到各种扫描电子显微镜（SEM）中。互补SPM和SEM技术的结合（CPEM）可以进行复杂的样品分析，包括表面形貌、机械性能、电性能、化学成分、磁性等的表征。 还能与其他扫描电镜附件相结合，如聚焦离子束（FIB）或气体注入系统(GIS ）用于纳米/微结构的制备和表面改性可以对装配结构的快速和简单的3D检查。 同时，SPM和SEM测量能够在同一地点、同一时间、同一协调系统进行。
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高精度纳米拉伸压缩系统——KLA的NanoUTMT150纳米力学测试系统适用于对多种材料的微纳米力学特性进行表征。具备静态、动态拉伸等多种功能，连续动态分析模块提供一种操作简单且性能可靠的试验方法。在连续拉伸和压缩过程中的不同应变状态下，对材料的动态力学特性进行测试分析，可快速获得材料的储存模量、损耗模量、损耗因子等。采用设计特的纳米力学激励传感器，系统将简谐力叠加在静态力上，通过传感器内置的电容检测器，对振幅进行实时监控。
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FT-MTA02是一款集微纳力学测试、微纳机械性能测试、微纳三维操纵及组装于一身的微机器人系统。高分辨力传感探针配合精度很高的三维移动台，能直接且同时准确测得5nN~100mN范围内的微力及1nm~26mm范围内的微位移。带有力传感的微钳能对于0～100um的物体进行拾取、移动、拉伸等操纵或组装。得益于模块化的设计，FT-MTA02能和许多仪器进行联用，例如：探针台、各类光学显微镜、工业产线集成等。非常适合于MEMS、材料、生物等领域的微纳力学测试及操纵等研究。
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FT-MTA03集纳米压痕仪、微拉力仪、轮廓仪和通用微观结构分析仪的功能于一体，其测力范围为±200mN，力学分辨率可达0.5nN（9个数量级），可在三轴方向测量0.1nm至29mm的位移（8个数量级）。FT-MTA03配置高分辨率显微镜，具有95mm的较为高工作距离，可在样品上方180°旋转。配备3百万像素CMOS USB相机，可选择同轴透镜照明、环形光和漫射背光三种可调LED照明原理。
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KLA公司全系列的力学测试产品均采用电磁驱动原理的加载力激发器，iNano台式纳米压痕仪。对纳米压痕物理模型和优线性特性的电磁力驱动原理的深刻理解，以及良好的灵敏度的三片式电容传感器的设计，保证全系列纳米力学产品在整个量程范围内均能得到高精准、高分辨的控制。50mN载荷范围，3nN加载精度，0.002nm位移精度。
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Park XE-15大样品台工业原子力显微镜是专为共享实验室、多变量实验和晶片失效分析设计的高性能设备。它具备100μm×100μm的XY柔韧导向扫描范围和12μm（可选25μm）的挠性导向强力Z扫描，配备滑动连接的超亮二级管头和多样品夹头。此外，选配的编码器XY自动样品载台和垂直对齐的电动Z载台及聚焦载台，进一步提升了操作的便捷性和成像效率。6寸样品台的设计使其能够容纳较大尺寸的样品，实现多样品一次性自动成像，提高数据精确性和稳定性，满足多样化的研究需求。
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LiteScope™是为不同品牌的扫描电子显微镜（SEM）设计的“即插即用”的扫描探针显微镜。根据客户需求，定制并提供适当的适配器和反馈机制，很容易通过四个螺丝将LiteScope™固定在电子显微镜的样品台上，通过线缆与控制器、电脑进行连接。LiteScope™通过可更换探针进行多种扫描探针显微镜（SPM）成像模式。综合分析包括：表面形貌表征、机械性能、电性能、磁性能。
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Nano Indenter® G200系统是一种准确，灵活，使用方便的纳米级机械测试仪器。 G200 测量杨氏模量和硬度，包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。 该系统还可以测量聚合物，凝胶和生物组织的复数模量以及薄金属膜的蠕变响应（应变率灵敏度）。 模块化选项可适用于各种应用：频率特定测试，定量刮擦和磨损测试，集成的基于探头的成像，高温纳米压痕测试，扩展负载容量高达10N 和自定义测试。
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原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM)经过30多年的发展后，从形貌测试及其它常规功能来看已经非常成熟。然而常规的原子力显微镜也越来越无法满足科研人员在纳米尺度下对于样品进行多性质原位测试分析的需求，尤其在化学、光学、电学、热学、力学等领域。
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透射电镜多尺度、多视角（明、暗场像，电子衍射， 化学成分）的实验分析能力，基于透射电子显微镜的原位微纳米力学实验仪器，将为研究材料内部缺陷形成、演化行为提供实验平台。将三维纳米操纵与360度旋转耦合的三维重构样品台，是实现原子级三维重构提供设备支撑。将三维重构与原位光学、力学和电学等原位加载功能结合，实现对于三维结构演化的动态解析，无疑将对深化人类对于物质结构的认识提供支撑。
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Swift Tensile Stage原位拉伸台是一款专为现代材料研究设计的多功能设备，适用于扫描电镜、透射电镜、光学显微镜、共聚焦显微镜等多种显微观测系统。它支持EBSD、样品加热和冷却，能够实现“拉伸—剪切”、“压缩—剪切”、“单轴拉伸/压缩”、“纯剪切”及疲劳力学测试等多种模式，适用于薄膜及细丝力学实验。该设备结构紧凑，兼容真空和电磁环境，采用超低速准静态加载方式，便于在成像仪器下进行连续可视化原位监测，揭示载荷作用、材料变形损伤机制与微观结构变化间的规律。
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ezAFM是新设计的精致型原子力显微镜，具有设计紧凑、美观大方、高稳定性、占用空间小等特点，而且软件功能强大、操作简单、用户界面良好，而且价格实惠，性价比较为高。它是理想的实验室用原子力显微镜，广泛应用于高等教育、纳米技术教育和基础研究等领域。产品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFMAQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等扫描，可以用于电学、磁学等拓展模式，以及液相、真空环境等。
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