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用于光源、探测器与分析器的附接与对准设备,以及模块分析系统

1035   编辑:管理员   来源:中冶有色网  
2023-03-19 06:45:15
本发明涉及用于光源、探测器与分析器的附接与对准装置,以及模块分析系统,并且提供了一种用于结合光学分析系统的两个或多个单独部件的设备,以使用跨越诸如栈、燃烧室、导管或管道的测量空间的光学测量的共同入口与出口穿孔,从而以从相应的光源到探测器的光学路径基本上相同的方式,使得在诸如温度与压力分布和背景物质浓度的等效周围环境条件的情况下能够在单个光学路径或紧密对准的光学路径上方进行多个光学测量。此设备与形成模块系统的一组相互可连接的设备是有用的,例如,在吸收光谱中,诸如用于测量在测量体积中的流体的化学组分的数量分数。
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“用于光源、探测器与分析器的附接与对准设备,以及模块分析系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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