工作原理
EDX2000HX采用高压电源驱动X光管产生初级X射线,经准直器聚焦后照射样品表面,激发元素内层电子跃迁并释放特征X射线荧光。高分辨率Si-PIN探测器接收荧光信号,经信号检测电路放大与数模转换后,由内置软件解析光谱特征峰强度与能量。通过多参数线性回归方法,仪器可自动修正元素间的吸收与排斥效应,结合相互独立的基体效应校正模型,确保复杂基材检测的准确性。分析结果实时显示于计算机界面,并支持PDF/EXCEL格式报告导出。
应用范围
金属冶炼:检测铜合金、锌合金、不锈钢等材料中的主次元素含量,优化合金配比。
机械制造:分析零部件的成分均匀性,保障产品质量稳定性。
电子元器件:验证焊料、镀层材料的无铅化(RoHS)合规性。
环境监测:筛查土壤、废水中的重金属污染元素(如Pb、Cd、Cr)。
矿产勘探:快速评估矿石品位,指导选矿工艺。
技术参数
元素分析范围:硫(S)至铀(U),支持30种以上元素同步分析。
检出限:最低可达ppm级(如Cd、Pb等RoHS指令元素)。
分析精度:≤0.1%(含量≥96%的主元素)。
能量分辨率:160±5eV,确保轻元素(如Mg、Al)检测灵敏度。
测量时间:60秒至200秒,支持快速批量检测。
样品腔尺寸:439mm×300mm×50mm,适应大尺寸样品。
防护等级:符合IEC 61010安全标准,配备射线防护装置。
产品特点
高效稳定:新一代高压电源与X光管组合,提升测试效率与设备可靠性。
智能升级:无需硬件改造即可扩展分析元素库,适应未来检测需求。
操作便捷:一键式分析流程,支持多语言界面与自定义程序。
精准定位:精细手动移动平台与高清摄像头,实现微小区域精准检测。
数据管理:内置32GB存储器,支持远程数据传输与MES系统对接。