权利要求书： 1.一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，其特征在于：包括输送带(1)，所述输送带(1)的上边缘前后两侧固定装配有支腿(2)，前后所述支腿(2)上端固定装配有宽筛分颗粒粒度探测机构(3)，所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)电连接有铠装电缆(4)，且铠装电缆(4)电连接有计算机(5)，且计算机(5)的机箱内集成有采集卡(6)，所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)下端装配有透镜升降调节结构(8)，所述透镜升降调节结构(8)和宽筛分颗粒粒度探测机构(3)下端之间位置装配有透镜底面清洁结构(9)。
2.根据权利要求1所述的一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，其特征在于：
所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)包括嵌入装配于外壳上表面中部的光纤分束器(31)，所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)的外壳上表面固定装配有激光器(32)，且激光器(32)输出端位于光纤分束器(31)输入端正上方，所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)的外壳内腔上端均匀横向固定装配有准直扩束器(34)，且准直扩束器(34)数量有三个，所述光纤分束器(31)与三个所述准直扩束器(34)之间连接有光纤，所述准直扩束器(34)下方位置从上至下依次固定装配有分束器(35)和透镜(33)，所述分束器(35)侧方位置固定装配有光电探测器(36)，所述计算机(5)与激光器(32)电连接，且光电探测器(36)与采集卡(6)电连接。
3.根据权利要求2所述的一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，其特征在于：
所述透镜升降调节结构(8)包括开设于宽筛分颗粒粒度探测机构(3)外壳内腔下端的矩形环状凹槽(81)，所述矩形环状凹槽(81)上端左右两侧均固定装配有电动推杆(82)，左右两侧所述电动推杆(82)下端固定装配有透镜安装板(83)，且透镜安装板(83)滑动装配于矩形环状凹槽(81)内，所述透镜(33)外侧套接有圆筒，且圆筒固定装配于透镜安装板(83)上开设的预留通孔内，所述透镜(33)安装的数量有三个，所述透镜安装板(83)上和宽筛分颗粒粒度探测机构(3)下端之间位置均匀装配有透镜底面清洁结构(9)，且透镜底面清洁结构(9)与透镜(33)一一对应。
4.根据权利要求3所述的一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，其特征在于：
所述透镜底面清洁结构
声明：
“测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色网
来源：苏州胤煌精密仪器科技有限公司
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2025年06月20日 ~ 22日 
