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字线电阻测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品

733   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:24
本申请实施例提供一种字线电阻测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品,该字线电阻测试方法包括:向与待测试字线连接的存储单元中写入第一数据,并在所述待测试字线激活预设时间后,读取所述存储单元中存储的数据,其中,所述预设时间小于所述存储单元对应的标准行地址激活时间;根据所述存储单元中存储的数据,确定所述待测试字线的电阻是否合格。在向存储单元写入数据后,通过较短的行地址激活有效时间进行存储数据的读取,基于所读取的数据与所写入数据是否一致,实现对字线电阻的测试,测试成本低、准确度高,通过字线电阻测试,有效避免了DRAM因字线电阻偏大而导致读写失效。
声明:
“字线电阻测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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