北京有色金属分析检测设备

XNDT-101铸造件缺陷在线检测机 3492     

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XNDT-101主要由X射线源、线阵探测器、传动系统和主机电脑组成，实现对铸造件内部缺陷的在线检测。

XNDT-102 便携式探伤仪 2799     

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XNDT-102便携式成像系统由1个探测器盒、1台便携式射线源和1台笔记本电脑组成，可用于公共安全场合的包裹安全检查、工业无损检测等。

XNDT-103异物在线检测机 3730     

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XNDT-103主要由X射线源、线阵探测器、传动系统和主机电脑组成，并提供一组继电器输出信号，用于剔除不合格产品。广泛用于食品、服装、鞋类、再生资源回收等行业的异物检测。

场发射透射电子显微镜 2800     

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JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200KV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。

红外光谱仪 2422     

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傅立叶变换红外光谱仪能在最短的时间内分析具有挑战性的样品，提供最完善的解决方案。分析实验室对能够高效完成原材料和最终产品的分析任务的仪器的需求与日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立叶变换红外光谱仪显著简化了传统傅立叶变换红外光谱仪的数据分析，样品采集和仪器验证环节，成为完成这类分析任务的一种较好的选择为确保仪器性能而设计系统性能确认（SP）是一个确保光谱仪长期稳定运行的有力工具。

热重分析仪 2589     

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STA 449 F3 JUPITER 包含TG与DSC测试系统。具有如下显著优点：消除称重量、样品均匀性、升温速率、气氛压力与流量差异等因素影响，TG与DTA/DSC曲线对应性更佳。同步热分析仪根据某一热效应是否对应质量变化，有助于判别该热效应所对应的物化过程（如区分熔融峰、结晶峰、相变峰与分解峰、氧化峰等）。同步热分析仪在反应温度处知道样品的当前实际质量，有利于反应热焓的准确计算。

紫外可见近红外分光光度计 2293     

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岛津UV－3600是世界领先的高性能的紫外可见近红外分光光度计，性能卓越。紫外可见分光光度计是每个化学分析实验室必备的常用仪器设备之一，在各种定量和定性分析中得到了广泛的应用。岛津的紫外可见分光光度计产品线非常丰富，从最普通的单光束分光光度计到测量范围可以扩展到深紫外、近红外区域的UV－VIS－NIR分光光度计。

球差电镜测试 2248     

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JEM-ARM200F差校正透射电镜，拥有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式。对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。用于纳米科学、材料科学、生命科学等领域的科研项目。

工业CT 1869     

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XRADIA CONTEXT MICROCT，是一款大观察视野、无损 3D X射线微焦点计算断层扫描系统。可满足多种 3D 表征和检测需求的成像解决方案，不仅能够在3D全景中展示完整大样品的内部细节，还能针对小样品使用大的几何放大倍数实现高分辨率和高衬度成像观察细节特征。XRADIA CONTEXT 建立在历经考验的蔡司XRADIA平台之上，图像质量、稳定性和易用性均属上乘，且具备高效的工作流环境和高通量扫描功能。

差示扫描量热仪 2642     

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耐驰差示扫描量热仪DSC214对于日常的 DSC 测试提供了强有力的解决方案，并在硬件与软件方面作了极大的改进。仪器在易于操作的同时提供了的可靠性，使得这款仪器成为包括聚合物工业在内的诸多行业进行产品研发，质量控制与失效分析的理想工具。

洛氏硬度计 2396     

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洛氏硬度计是世界上第一台依据洛氏硬度试验原理设计的，只需要单侧接触试样就可测试金属硬度的洛氏硬度计，依靠磁力将洛氏硬度计测头吸附在钢铁表面，不需要对试样进行支撑，测试精度符合标准GB/T230、ISO6508，不低于台式洛氏硬度计。利用磁力吸盘将硬度计固定在钢铁工件表面，无需支撑，无需取样，不用移动 工件，只要单侧接触即可完成测试。

数显显微维氏硬度计 1690     

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HVS-50型数显维氏硬度计是光机电一体化的高新技术产品，具有良好的可靠性，可操作性，是小负荷维氏硬度计的升级换代产品。

X射线荧光光谱仪 2721     

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ARL ADVANT X 是一台灵活、高性能的顺序式 XRF 光谱仪，可分析周期表中多达84种元素。可选四种功率（从 1200W 至 4200W ），不仅能优化性能还可优化日常和苛刻应用的操作成本。X 射线荧光光谱仪 （XRF） 分析是一项应用广泛的分析技术，可利用简易的样品制备和无损分析，对各种固体和液体样品进行元素分析。

X射线光电子能谱仪 2370     

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ESCALAB 250XI X射线光电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器，它可以用于研究各种固体材料样品表面（1-10NM厚度）的元素种类、化学价态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息；通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息；利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。

电子探针显微镜（EPMA） 2847     

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日本电子 JXA-8230电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是能完全满足多种需求的强力分析工具之一。

激光粒度仪（粒度/zeta） 1774     

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ZETASIZER NANO ZS90 ZETA电位分析仪是一款高性价比的分子/粒度和ZETA电位分析仪。使用动态光散射以90度散射角测量颗粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微电泳测量ZETA电位和电泳迁移率的能力，以及使用静态光散射测量分子量。动态光散射检测由于颗粒布朗运动而产生的散射光的波动随时间的变化。检测器将散射光信号转化为电流信号，再通过数字相关器的运算处理，得到颗粒在溶液中扩散的速度信息，即扩散系数。通过STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒径大小及其分布。

等离子聚焦离子束系统 1872     

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蔡司双束电镜CROSSBEAM系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。

X射线衍射仪 2188     

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X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

拉曼光谱仪 1901     

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拉曼光谱仪是测定分子振动光谱的仪器，可用于有机化合物、无机化合物、高分子聚合物、生物膜等各种材料的结构特性分析。采用共焦光路设计，研究物质成分的判定与确认；与红外光谱互补， 是分析物质组分、结构等的光谱分析手段之一。

核磁共振仪 3338     

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核磁共振仪主要用于有机化合物、生物蛋白质分子的结构确证、鉴定或结构、空间的构型分析。能对多种复杂分子如有机化合物、合成高分子、金属有机化合物及络合物等进行结构分析。该仪器是化学、物理学以及生命科学等多学科研究物质成分、结构和动态强有力的常规工具。

场发射扫描电子显微镜 2683     

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日立场发射扫描电子显微镜SU8020采用日立技术公司全新开发的冷场电子枪，实现超高分辨率下观察的同时，稳定的束流亦可满足长时间下的分析需求。是利用二次电子和背散射电子信号，通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器。

有机元素分析仪 1876     

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VARIO EL CUBE动态范围宽，允许样品的测量范围从低微克级到数十毫克。样品类型从纯有机材料（如汽油）到有机含量极低的沉积物皆可。即使是含氟样品也能耐受。结合其出色的精度，VARIO EL CUBE为各种样品类型提供灵活可靠的解决方案。VARIO EL CUBE对氢元素的检测也能获得高精度。通过一个可靠的热导检测器，避免了红外检测H2O可能会遇到干扰物和精度不准等问题。

原子力显微镜 2462     

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DIMENSION ICON 可以实现所有主要的扫描探针成像技术，其测试样品尺寸可达：直径210MM，厚度15MM。温度补偿位置传感器使Z-轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平。对于大样品、90微米扫描范围的系统来说，这种噪音水平超越了所有的开环扫描高分辨率的原子力显微镜。全新的XYZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。

EBSD背散射 1696     

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EBSD——电子背散射衍射仪——是一种强大的微观分析仪器，它能精密的分析和表征晶态材料的微观组织和性能，提高速度和数据质量。 SYMMETRY是牛津仪器公司基于CMOS技术发展的全新一代EBSD探测器，拥有空前的性能和易用性。

场发射透射电子显微镜 2641     

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TECNAI G2 F20透射电子显微镜是一个多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明场、暗场像和髙分辨像，能进行选区电子衍射，能进行EDX能谱分析和髙分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EⅨ点、线扫描的可以进行微区能谱分析。