其他有色金属分析检测技术理论与应用

芯片平整度检测装置及检测方法与流程 883     

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本发明涉及芯片检测设备技术领域，尤其涉及一种芯片平整度检测装置及检测方法。背景技术半导体芯片是在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件；不只是硅芯片，常见的还包括砷化镓，锗等半导体材料；半导体芯片在生产后，需要工人对生产后的半导体芯片厚度与引脚进行平整度测试，为此方便半导体芯片的后续使用。目前在对特定的半导体芯片进行测试时，需要工人通过卡尺进行检测与评定，因此不便于对大量的半导体芯片进行检测，当通过激光进行检测时，需要用到机器人对芯片进行搬送，但是由于芯片的底部与四个侧边都

多种元素同时测定检测方法与流程 1411     

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.本发明属于多种元素同时测定技术领域，具体为多种元素同时测定检测方法。背景技术.土壤是指地球表面的一层疏松的物质，由各种颗粒状矿物质、有机物质、水分、空气、微生物等组成，能生长植物，土壤是地球最重要的自然资源，是人类赖以生存的物质基础，是自然环境的重要组成部分。土壤安全是农产品安全的基本保障。随着经济的发展，我国土壤重金属污染问题日益凸显，而土壤中重金属含量是评价土壤.污染状况的重要指标，因此，探索快速、可靠测定土壤中重金属的方法具有重要的现实意义。.目前，测定土壤中重金属的方法主要有火焰