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深圳市天创美科技有限公司推出的ICP-OES原子发射光谱检测仪，是一款基于电感耦合等离子体发射光谱技术（ICP-OES）的高精度分析设备，专为多元素痕量分析设计。其工作原理通过高频电磁场（27.12MHz）激发氩气形成高温等离子体炬焰（温度达6000-10000K），样品经雾化后进入等离子体，原子被电离并跃迁至激发态，返回基态时释放特征光谱。仪器采用Czerny-Turner型光路与离子刻蚀全息光栅（3600线/mm或2400线/mm），实现190-800nm全波段光谱采集，分辨率≤0.008nm（3600线光栅），可同步检测70余种元素，检出限低至ppb级。
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苏州谦通仪器设备有限公司的延伸率拉力试验机是一款专为材料力学性能测试设计的高精度设备，广泛应用于金属、非金属及复合材料的拉伸、压缩、弯曲等力学性能检测。其工作原理基于胡克定律与材料变形理论，通过伺服电机驱动滚珠丝杠传动系统，对夹持在楔形或缠绕式夹具中的试样施加轴向拉力，同时利用高精度力传感器与光栅尺位移传感器实时采集力值与位移数据。设备内置的DSP数字信号处理器可对数据进行高速处理，自动绘制力-位移曲线与应力-应变曲线，并计算出抗拉强度、屈服强度、断裂伸长率等关键参数。
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苏州福佰特仪器科技有限公司EDX1800矿石化验仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度分析设备，专为矿石成分快速检测设计。该仪器通过高压电源激发X光管产生初级X射线，穿透样品后激发特征荧光，电制冷Si-Pin探测器捕获信号并转换为数字信号，结合FP基本算法、经验系数法等多重算法，实现矿石中元素的定性定量分析。其检测范围覆盖硫(S)至铀(U)之间的30余种元素，分析含量可达2ppm-99.99%，检测限低至2ppm，能量分辨率144±5eV，满足纳米级矿物成分分析需求。
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苏州浪声科学仪器有限公司的手持式工业硅光谱分析仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的便携式检测设备，专为工业硅及相关材料成分分析设计。其工作原理通过高能X射线轰击样品，激发原子内层电子跃迁并释放特征X射线荧光，这些荧光谱线与元素种类一一对应，且辐射强度与元素浓度成正比，从而实现精准定量分析。设备采用大面积SDD探测器，结合智能真空系统，可有效激发Si、P、S等轻元素，同时对Cr、Ni等重金属元素保持高灵敏度，适用于工业硅生产全流程的质量控制。
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苏州福佰特仪器科技有限公司便携式水质分析仪HM-3000P是一款基于溶出伏安法与电化学传感器技术的高精度便携检测设备，专为水质重金属快速分析设计。该仪器通过工作电极与水样中重金属离子的氧化还原反应，测量电流变化实现定量分析，检测精度可达1ppb，最低检出限低于0.5ppb，覆盖铜、镉、铅、锌、汞、砷等10余种重金属离子，支持通过更换电极扩展锰、铬、镍等元素检测。其检测流程高度自动化，从取样到结果输出仅需3-5分钟，显著提升应急监测效率。
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苏州福佰特仪器科技有限公司EDX 2000A电镀层测厚仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度无损检测设备，专为金属镀层厚度分析设计。该仪器通过高压电子流激发X光管产生初级X射线，穿透镀层后激发特征荧光，探测器捕获荧光信号并转换为数字信号，结合专业软件计算得出镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖氯(Cl)至铀(U)之间的24种元素，可同时分析23层镀层结构，单层测量精度达±0.001%，最薄检出限低至0.005μm，满足纳米级薄膜分析需求。
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昆山市玉山镇兴羽腾仪器经营部推出的金属镀层厚度检测仪Thick800A，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的高精度无损检测设备，专为金属镀层厚度分析设计。该仪器通过高压电子流激发X光管产生初级X射线，经样品激发后产生特征X荧光，探测器捕获荧光信号并转换为数字信号，结合专业软件计算得出镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖硫(S)至铀(U)之间的30余种元素，可同时分析5层镀层结构，单层测量精度达±0.005μm，最薄检出限低至0.005μm，满足纳米级薄膜分析需求。
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昆山市玉山镇兴羽腾仪器经营部推出的化学镍膜厚测试设备，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度无损检测仪器，专为电镀、化镀及热镀工艺中的镍镀层厚度分析设计。该设备通过微焦斑W靶X射线管发射高能射线，穿透镀层后激发特征荧光，探测器捕获荧光信号并解析能谱，结合多层薄膜基本参数法（MTFFP）模块，精准计算镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖铝至铀之间的元素，可同时分析5层及以上镀层结构，单层测量精度达±5%，最薄检出限低至0.0025微米，满足纳米级薄膜分析需求。
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苏州福佰特仪器科技有限公司推出的ICP2060T全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪，是一款专为多元素痕量分析设计的高性能仪器。其核心工作原理基于高频电磁场激发氩气形成高温等离子体炬焰（温度达6000-8000K），样品经雾化后进入等离子体，原子被电离并跃迁至激发态，返回基态时释放特征光谱。通过高分辨率中阶梯光栅与CCD检测器，仪器可同时捕获多元素特征谱线，结合专业软件实现全谱直读与定量分析，灵敏度达ppb级。
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苏州福佰特仪器科技有限公司推出的ICP-AES（电感耦合等离子体原子发射光谱仪）是一款高性能的元素分析设备，专为痕量与常量元素的精准检测设计。其核心工作原理基于高频电磁场激发氩气形成等离子体炬焰，样品经雾化后进入高温等离子体（温度达6000-8000K），原子被电离并跃迁至激发态，返回基态时释放特征光谱。通过高分辨率光栅分光系统与电荷耦合器件（CCD）检测器，仪器可同时捕获多元素特征谱线，结合专业软件实现多元素定量分析，灵敏度达ppb级。
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苏州福佰特仪器科技有限公司推出的Thick800A电子元器件镀层测厚仪，是一款基于X射线荧光光谱（XRF）技术的高精度分析设备，专为金属镀层厚度及成分检测设计。其工作原理是通过高压X光管激发样品表面，使镀层元素产生特征荧光X射线，探测器捕获信号后经多变量非线性回归算法处理，实现多层镀层厚度与成分的定量分析。该技术无需物理接触样品，可穿透表面直接检测，避免了对精密元器件的损伤，同时支持微小区域（最小0.1mm）的精准测量。
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苏州福佰特仪器科技有限公司推出的EDX1800BS高岭土化学成分检测仪，是一款基于X射线荧光光谱（XRF）技术的高精度分析设备，专为非金属矿物成分检测设计。其核心工作原理是通过高压电源激发X光管产生高能X射线，照射样品表面后激发目标元素特征荧光X射线，探测器捕获信号并经多变量非线性回归算法处理，实现多元素定量分析。该技术无需复杂前处理，可穿透样品表面直接检测化学组成，适用于高岭土中SiO₂、Al₂O₃、Fe₂O₃等主次成分的快速筛查。
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本产品严格遵循GB/T 20899.1-2019国家标准设计，专为金矿石化学分析研发，可精准测定金元素及其他伴生元素的含量。其工作原理是采用X射线荧光光谱技术（XRF），通过高能X射线激发样品表面原子，使其发射特征荧光光谱。仪器内置高精度硅漂移探测器（SDD）捕获光谱信号，结合Peltier恒温冷却系统（-35℃）保障检测稳定性。内置气压补偿功能可自动适应不同海拔环境，确保数据准确性。
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苏州福佰特仪器科技有限公司推出的焦煤灰有机质含量测定仪，是一款基于能量色散X射线荧光光谱技术的高精度分析设备，专为煤炭、电力及冶金行业设计。其核心工作原理是通过超薄窗X光管发射低能X射线，激发煤灰样品中各元素的特征荧光辐射，SDD硅漂移探测器以145±5eV的高分辨率捕捉信号，结合数字多道分析系统与智能真空系统，对Si、Al、Fe、Ca等主量元素及微量的S、P、K、Na等元素进行无损定量分析。该设备采用先进的FP法与EC法结合，通过煤灰成分数据库与多参数线性回归算法，有效抑制基体效应对轻元素（如Si、P）的干扰，确保检测精度。
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苏州百测检测科技有限公司推出的EDX600·PLUS化学镍膜厚测试设备，是一款基于X射线荧光光谱法（XRF）的高精度镀层分析仪器，专为满足工业生产与科研领域对化学镍镀层厚度及成分的精准检测需求而设计。其核心工作原理通过高能X射线激发化学镍镀层中的镍元素，使原子释放特征X射线荧光信号，设备搭载高分辨率硅漂移探测器（SDD），结合FP法智能算法，快速解析镀层厚度与成分比例。该技术无需破坏样品，单次检测时间≤30秒，支持多层镀层（如镍-磷、镍-铜复合镀层）的同步分析，检出限低至0.005μm，重复性误差≤±1.5%，满足微米级精度需求。
2025年06月06日 ~ 08日 
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2025年06月13日 ~ 15日 
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