1.本实用新型涉及分选机技术领域，更具体地说，本实用新型涉及一种半导体制冷晶粒自动分选机。
背景技术：
2.晶粒是组成多晶体的外形不规则的小晶体，而每个晶粒有时又有若干个位向稍有差异的亚晶粒所组成。晶粒的平均直径通常在0.015~0.25mm范围内，而亚晶粒的平均直径通常为0.001mm数量级。而常见的分选机是一种对产品进行重量分级筛选的设备。针对半导体制冷晶粒材料常用自动分选机进行筛分，而自动分选机是能够根据测量结果将被测件分成合格、正超差、负超差或将合格品再分成若干类，以便选择装配的自动化机器。
3.但是在实际使用时，由于晶粒外形差异较大且外形不规则，从而在半导体生产使用中不仅需要对晶粒直径进行检测，而且还需要对外形进行检测，而现有的自动分选机对晶粒的外形检测效果不佳，因此需要进一步的改进。
技术实现要素：
4.为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型的实施例提供一种半导体制冷晶粒自动分选机，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体制冷晶粒自动分选机，包括支撑框架，所述支撑框架顶部的内壁由左至右分别转动连接连接有一个主动轴和若干个从动轴，所述主动轴与从动轴的表面分别固定套接有主动滚轮和从动滚轮，所述主动滚轮与从动滚轮通过输送带传动连接，所述支撑框架的右侧设置有送料装置，且所述送料装置的顶部固定安装有送料管，且所述送料管的一端贴近输送带的上表面，所述支撑框架的上方固定安装有多个固定架，且所述固定架靠近输送带处开设有检测通道，所述检测通道的内壁设置有检测机构，所述支撑框架的左侧设置有收集架，所述收集架位于输送带上方的顶部固定安装有吸料管，所述收集架的表面固定安装有合格收集箱和不合格收集箱。
6.为了能够从三个角度对输送带上的晶粒进行观察检测，从而提高对晶粒外形的检测效果，所述检测机构包括固定安装在检测通道内壁的左视角检测器，俯视角检测器和右视角检测器。
7.为了能够利用动力电机提供输送带带动晶粒移动的动力，所述支撑框架的正面固定安装有动力电机，且所述动力电机的输出轴与主动轴固定连接。
8.为了能够增大吸料管吸料的范围，从而有助于吸入外形不合格的晶粒，所述吸料管靠近输送带的一端固定安装有吸料盘。
9.为了能够利用气泵将检测出不合格的晶粒吸入不合格收集箱，所述收集架的顶端固定安装有气泵，所述气泵的两端固定安装有吸料软管，且所述吸料软管的一端位于不合格收集箱内。
10.为了便于将检测合格的晶粒输送到合格收集箱，所述输送带的左侧位于合格收集箱的上方。
11.本实用新型的技术效果和优点：
12.1、与现有技术相比，通过设置输送带，能够带动晶粒依次通过固定架开设的检测通道，从而便于对单一的晶粒逐次的多次的进行检测；通过设置气泵，能够将检测到的外形或直径不合格的晶粒顺着吸料管和吸料软管导入不合格收集箱，而合格的晶粒顺着输送带滑入合格收集箱，从而便于将晶粒进行分选。
13.2、与现有技术相比，通过设置左视角检测器，俯视角检测器和右视角检测器，能够从三个角度对输送带上的晶粒进行观察检测，从而提高对晶粒外形的检测效果；通过设置吸料盘，能够增大吸料管吸料的范围，从而有助于吸入外形不合格的晶粒。
附图说明
14.图1为本实用新型的支撑框架正面结构示意图。
15.图2为本实用新型支撑框架侧面结构示意图。
16.图3为本实用新型图1中a处的放大结构示意图。
17.图4为本实用新型图2中b处的放大结构示意图。
18.附图标记为：1、支撑框架；2、主动轴；3、从动轴；4、主动滚轮；5、从动滚轮；6、输送带；7、送料装置；8、送料管；9、固定架；10、检测通道；11、收集架；12、吸料管；13、合格收集箱；14、不合格收集箱；15、左视角检测器；16、俯视角检测器；17、右视角检测器；18、动力电机；19、吸料盘；20、气泵；21、吸料软管。
具体实施方式
19.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
20.如附图1和附图2所示的一种半导体制冷晶粒自动分选机，包括支撑框架1，支撑框架1顶部的内壁由左至右分别转动连接连接有一个主动轴2和若干个从动轴3，主动轴2与从动轴3的表面分别固定套接有主动滚轮4和从动滚轮5，主动滚轮4与从动滚轮5通过输送带6传动连接，支撑框架1的右侧设置有送料装置7，且送料装置7的顶部固定安装有送料管8，且送料管8的一端贴近输送带6的上表面，支撑框架1的上方固定安装有多个固定架9，且固定架9靠近输送带6处开设有检测通道10，检测通道10的内壁设置有检测机构，支撑框架1的左侧设置有收集架11，收集架11位于输送带6上方的顶部固定安装有吸料管12，收集架11的表面固定安装有合格收集箱13和不合格收集箱14。
21.在一个优选地实施方式中，如附图2和附图4所示，检测机构包括固定安装在检测通道10内壁的左视角检测器15，俯视角检测器16和右视角检测器17，以便于能够从三个角度对输送带6上的晶粒进行观察检测，从而提高对晶粒外形的检测效果。
22.在一个优选地实施方式中，如附图1、附图2和附图3所示，支撑框架1的正面固定安装有动力电机18，且所述动力电机18的输出轴与主动轴2固定连接，以便于能够利用动力电机18提供输送带6带动晶粒移动的动力。
23.在一个优选地实施方式中，如附图1和附图2所示，吸料管12靠近输送带6的一端固定安装有吸料盘19，以便于能够增大吸料管12吸料的范围，从而有助于吸入外形不合格的晶粒。
24.在一个优选地实施方式中，如附图1和附图3所示，收集架11的顶端固定安装有气泵20，气泵20的两端固定安装有吸料软管21，且吸料软管21的一端位于不合格收集箱14内，以便于能够利用气泵20将检测出不合格的晶粒吸入不合格收集箱14。
25.在一个优选地实施方式中，如附图1和附图3所示，输送带6的左侧位于合格收集箱13的上方，以便于将检测合格的晶粒输送到合格收集箱13。
26.本实用新型工作原理：在使用时，通过送料装置7上的送料管8向输送带6上输送单个待检测晶粒，启动动力电机18，由于动力电机18能够带动主动轴2转动，从而利用主动轴2上的主动滚轮4通过输送带6带动多个从动轴3上的从动滚轮5转动，从而输送带6输送晶粒时受到从动滚轮5的支撑力较为均匀，从而有助于输送带6带动晶粒依次通过固定架9开设的检测通道10，从而便于对单一的晶粒逐次的多次的进行检测；通过设置左视角检测器15，俯视角检测器16和右视角检测器17，能够从三个角度对输送带6上的晶粒进行观察检测，从而提高对晶粒外形的检测效果；通过设置气泵20，能够将检测到的外形或直径不合格的晶粒顺着吸料管12和吸料软管21导入不合格收集箱13，而合格的晶粒顺着输送带6滑入合格收集箱14，从而便于将晶粒进行分选；通过设置吸料盘19，能够增大吸料管12吸料的范围，从而有助于吸入外形不合格的晶粒；综上所述，该装置能够多次的多角度的对晶粒外壳进行检测，从而便于利用气泵20和输送带6进行自动分选。
27.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
28.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。技术特征：
1.一种半导体制冷晶粒自动分选机，包括支撑框架（1），其特征在于：所述支撑框架（1）顶部的内壁由左至右分别转动连接连接有一个主动轴（2）和若干个从动轴（3），所述主动轴（2）与从动轴（3）的表面分别固定套接有主动滚轮（4）和从动滚轮（5），所述主动滚轮（4）与从动滚轮（5）通过输送带（6）传动连接，所述支撑框架（1）的右侧设置有送料装置（7），且所述送料装置（7）的顶部固定安装有送料管（8），且所述送料管（8）的一端贴近输送带（6）的上表面，所述支撑框架（1）的上方固定安装有多个固定架（9），且所述固定架（9）靠近输送带（6）处开设有检测通道（10），所述检测通道（10）的内壁设置有检测机构，所述支撑框架（1）的左侧设置有收集架（11），所述收集架（11）位于输送带（6）上方的顶部固定安装有吸料管（12），所述收集架（11）的表面固定安装有合格收集箱（13）和不合格收集箱（14）。2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷晶粒自动分选机，其特征在于：所述检测机构包括固定安装在检测通道（10）内壁的左视角检测器（15），俯视角检测器（16）和右视角检测器（17）。3.根据权利要求2所述的一种半导体制冷晶粒自动分选机，其特征在于：所述支撑框架（1）的正面固定安装有动力电机（18），且所述动力电机（18）的输出轴与主动轴（2）固定连接。4.根据权利要求3所述的一种半导体制冷晶粒自动分选机，其特征在于：所述吸料管（12）靠近输送带（6）的一端固定安装有吸料盘（19）。5.根据权利要求4所述的一种半导体制冷晶粒自动分选机，其特征在于：所述收集架（11）的顶端固定安装有气泵（20），所述气泵（20）的两端固定安装有吸料软管（21），且所述吸料软管（21）的一端位于不合格收集箱（14）内。6.根据权利要求5所述的一种半导体制冷晶粒自动分选机，其特征在于：所述输送带（6）的左侧位于合格收集箱（13）的上方。
技术总结
本实用新型公开了一种半导体制冷晶粒自动分选机，具体涉及分选机技术领域，包括支撑框架，所述支撑框架的内部设置有主动滚轮和从动滚轮，所述主动滚轮与从动滚轮通过输送带传动连接，所述支撑框架的上方固定安装有多个固定架，且所述固定架靠近输送带处开设有检测通道，所述支撑框架的左侧设置有收集架，所述收集架位于输送带上方的顶部固定安装有吸料管，所述收集架的表面固定安装有合格收集箱和不合格收集箱。本实用新型通过输送带带动晶粒依次通过固定架开设的检测通道，从而便于对单一的晶粒逐次的多次的进行检测；通过气泵将检测到的外形或直径不合格的晶粒导入不合格收集箱，而合格的晶粒滑入合格收集箱，从而便于将晶粒进行分选。晶粒进行分选。晶粒进行分选。
技术研发人员：季林 卞则军
受保护的技术使用者：苏州博康智能科技有限公司
技术研发日：2021.12.13
技术公布日：2022/5/16
声明：
“半导体制冷晶粒自动分选机的制作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色技术网
来源：苏州博康智能科技有限公司
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2024年05月17日 ~ 19日 
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