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本发明提出一种冰箱的水过滤装置及冰箱的水过滤器失效的检测方法,该冰箱的水过滤装置包括:过滤器;压差测量器,所述压差测量器与所述过滤器相连用于测量所述过滤器的入水口与所述过滤器的出水口之间的水压差;报警器;和控制器,所述控制器与所述压差测量器和所述报警器相连,用于将所述水压差与预定阈值比较且在所述水压差大于所述预定阈值时控制报警器报警。根据本发明的用于冰箱的水过滤装置能够及时准确地提醒水过滤器已失效,避免了由于滞后或过早更换水过滤器而造成的饮用水质量下降或增加冰箱维护成本的问题。
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本实用新型属于多串电池电压检测的均衡失效保护技术领域，特别涉及一种多串电池电压检测的均衡失效保护电路。本实用新型包括与电池正极串联的MOS管，所述MOS管的源极与均衡电阻的一端相连，所述均衡电阻的另一端与均衡保护电路的一端相连，所述均衡保护电路另一端与电池负极相连，所述MOS管的栅极与控制端相连。均衡保护电路采用依次串联且连接方向相同的3个二极管，有效地避免了均衡失效所带来的电池损坏的现象出现，均衡保护电路最低的导通压降为2.1V，因此电池的电压会被限制在不低于2.1V的状态，有效避免了电池被放空而被损坏的现象出现，为使用者减少了损失，而且本实用新型所使用的电子元器件成本低廉、结构简单、适合批量生产。
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本发明实施例提供了一种光伏并网逆变器的继电器失效检测方法、装置及系统，该方法首先控制第一继电器闭合，控制第二继电器断开。然后获取预设时间周期的第一电容的电压值，并根据电压值的直流分值以及电压值的交流分值，确定第一目标值。当第一目标值小于等于预设继电器粘粘故障阈值时，确定第一继电器未发生粘粘故障，当第一目标值大于预设继电器粘粘故障阈值时，确定第一继电器发生粘粘故障。可见，本方案通过检测第一电容的电压值，然后与预设阈值进行比较，进而确定继电器是否发生故障。即只需采集一个电压，能够节省检测硬件的成本以及数字处理芯片的资源，又由于预设阈值特征明显，因此判断结果可靠，从而提高了检测的准确性。
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本发明公开了电源及核心部件失效检测评估及控制系统，系统运行程序包括运行的子程序层、检测层、评估层和控制层，所述检测层包括整流电源模块故障检测、BUCK电源模块故障检测和系统检测模块故障检测，所述评估层包括非影响系统稳定故障、影响系统稳定故障和电源通电损坏性故障，所述控制层包括响应相对实施控制模块，所述子程序应对系统的运行逻辑，所述检测层对不同类型的电源进行数据收集，通过评估层进行系统的等级的评估判断设定等级，再由控制层对评估层输出的结果进行实质性的实施执行任务。
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本发明提供的电池失效检测方法及装置，用于对电动汽车的电池模组进行失效检测。具体地，该方法根据获取到的所述电池模组于充电或放电开始时及结束后的两次剩余容量及剩余电量，计算该电池模组的当前容量，并将该当前容量与SOH(State of Health，健康状况)表中记载的当前使用状态下的标称容量进行比较，判断所述电池模组内是否存在单体电池失效。若存在单体电池失效，则生成相应的失效故障码，并将该失效故障码发送至一远程管理终端以提示管理人员，使管理人员及时安排技术人员进行维修，从而实现对电动汽车电池模组的智能化检测及监控。
本发明提供一种变换装置及其电流传感器失效检测方法、新能源发电系统；该方法，包括：控制变换电路中的相应开关管闭合，以使直流电源与变换电路中的相应开关管形成第一电流回路；其中，第一电流回路经过第一电流传感器；依据第一电流传感器的输出值，确定第一电流传感器是否存在失效故障；从而可以在变换装置并网前，确定变换装置中的第一电流传感器是否已经失效，避免造成失效范围扩大，另外，在不增加任何电路的情况下，对第一电流传感器进行失效检测，算法简单，实现容易，无任何风险。
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本发明提供了确定弱酸性树脂是否失效的方法和设备，其中，该方法包括：(1)检测水样的TDS值，以便获得第一TDS值；(2)利用弱酸性树脂对水样进行过滤，以便获得过滤后的水样；(3)检测过滤后的水样的TDS值，以便获得第二TDS值；(4)基于第一TDS值和第二TDS值确定弱酸性树脂是否失效。该方法通过检测水样过滤前后的TDS值来确定弱酸性树脂是否失效，价格较低，技术成熟度高、可靠性好。
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本发明涉及车辆检测技术领域，具体提供一种车辆电驱动系统的部件失效检测系统及换电站，旨在解决低成本且可靠地对电驱动系统进行失效检测的问题。本发明的部件失效检测系统包括信号采集装置和信号分析装置，部件失效检测系统的信号采集装置设置于车辆底部的悬空区域内，可以在电驱动系统按照预设工况运行的过程中进行声音信号采集，信号分析装置可以对声音信号进行信号分析，以确定车辆电驱动系统的机械部件是否发生失效。通过这种方式，无需为每辆车设置额外的部件监控系统对电驱动系统进行部件失效检测，只要车辆处于悬空状态如对车辆换电使车辆悬空时就可以对车辆进行部件失效检测，从而能够及时检测出是否发生部件失效。
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本发明涉及一种雷达失效自动检测方法，包括以下步骤：采用带指向地面波束的收发天线，使收发天线在指向正前方探测区域的同时形成指向地面方向的波束，该波束可以使雷达探测到地面引起的反射回波；反射回波发送至雷达接收单元，信号处理单元再进行分析，并提取地面反射信号的距离、速度、幅度信息；信号处理单元提取车身信息，并通过检测算法计算判断当前雷达性能是否发生变化。本发明借助带有对地探测波束的天线，可以实时稳定的检测出毫米波雷达功能是否失效，以保证雷达功能安全，对雷达失效检测具有稳定可靠、低成本的优点，具有一定的实用性和推广价值。
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本发明提供了一种失效锂离子电池负极材料的克容量检测方法，包括下列步骤：拆解失效锂离子电池并取出负极片；在负极片的非边缘部滴淋擦拭溶剂并擦拭开，获得滴淋区域单面、四周双面的负极片；进行极片冲裁，获得单面的负极单元片；将所述负极单元片组装成扣电后，测试其克容量。该克容量的检测方法步骤简单且结果准确，能够为锂离子电池的失效分析提供帮助。
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本实用新型公开了一种透明封装半导体的失效分析工装，用于进行透明封装半导体元件的失效分析，包括容器槽和定位装置；所述容器槽内部装有溶液，所述溶液密度可调；所述定位装置用于固定透明封装半导体元件，设置在所述容器槽内部，并浸泡在所述溶液中。该工装可清晰观察到半导体元件内部的结构，达到无损分析的目的；且结构简单，容易操作。
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本发明提供了一种显示面板、显示终端及检测显示面板失效的方法，解决了显示装置在可靠性验证过程中，无法判断导致显示失效的具体原因的问题。包括：发光层；失效检测层，包裹在所述发光层的表面，构造为检测所述发光层的失效是否由外部环境介质入侵所导致；以及封装层，包裹在所述失效检测层表面，构造为保护所述发光层。
本文描述了用于分析晶圆的失效指标的方法和设备以及计算机可读介质。在此描述的用于分析晶圆的失效指标的方法包括：针对多个批次的晶圆，分别确定制造工艺的多个工序的晶圆随机化标识符与表示失效程度的失效指标之间的拟合关系；针对所述多个工序，分别基于与所述多个批次中的参考批次的晶圆相对应的拟合关系和与所述多个批次中的其余批次的晶圆相对应的拟合关系之间的比较，确定相应的相似度值；以及基于与所述多个工序分别相对应的所述相似度值，确定所述多个工序中的至少一个工序的所述晶圆随机化标识符与对应于所述失效指标的失效问题之间的相关性。
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一种LED失效检测系统，包括电源模块、开关单元、LED灯组、电压检测单元、控制单元和输出滤波单元，所述电源模块通过稳压单元分别连接开关单元、LED灯组、电压检测单元、控制单元和输出滤波单元，所述输出滤波单元的输出端连接控制单元的输入端，控制单元的输出端连接开关单元的输入端，开关单元的第一输出端连接LED灯组，第二输出端连接输出滤波单元；所述LED灯组通过电压检测单元连接控制单元。本发明能够有效进行发光二极管LED失效检测，可以确保无论LED是处于开路失效状态还是处于短路失效状态，都能有效地统计出发光二极管阵列中LED的失效个数。
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本发明公开了一种基于故障树分析的共因失效可靠性分配系统，本发明的一次可靠性分配主要为三步：在第一步根据专家知识库对系统中需要改进可靠性的关键设备和部件进行初步的可靠性分配；第二步根据用户输入修改系统模型和专家知识库，形成最终系统模型和最终的关键设备和部件列表；第三步对最终的关键设备和部件的可靠性进行循环微调，直到系统可靠性完全满足用户要求。本系统以含共因失效的故障树分析方法为主，结合了专家知识库方法，从而能对含共因失效的复杂系统进行有约束的可靠性分配。
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本发明提供的电弧检测装置失效判定方法及电弧检测装置，应用于电力电子技术领域，该方法在电弧检测装置上电且自检通过后，获取电流采样信号，然后判断所得电流采样信号是否满足预设自检条件，如果判定检测结果满足预设自检条件，再次进行自检，如果电弧检测装置未通过再次自检，则可以判定电弧检测装置失效，在根据电流采样信号进行初步判断的同时，同步对电流采样信号进行电弧检测。本发明提供的方法，只有两次判断均判定电弧检测装置失效的情况下，才最终判定电弧检测装置失效，并且，对电流采样信号进行电弧检测的操作是同步进行的，不受失效判定过程的影响，可以有效提高电弧检测装置的可靠性，确保光伏发电系统的运行安全。
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本发明的目的是提出一种检测准确、应用范围广的LED转向灯检测、示警装置及其检测、示警方法。该装置包括车身控制模块和与车身控制模块相连的转向灯控制模块,所述转向灯控制模块输出电流至LED,驱动LED发光,所述车身控制模块与汽车仪表盘的转向指示灯连接,特别是所述转向灯控制模块内设置有可检测输出电流的电流检测单元、存储标准状态温度-电流数据的存储单元和数据处理单元,转向灯控制模块还连接有设置在LED转向灯内部的温度传感器。本发明的LED转向灯失效检测、示警装置及其检测、示警方法检测准确,同时无须LED转向灯内部的LED单纯串联,保留了LED的串、并联混合的优势,而且可以根据LED损坏情况作出不同的提示,具有很高的实用价值。
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本发明涉及一种晶圆研磨方法及晶圆失效分析方法。所述晶圆研磨方法包括如下步骤：提供初始晶圆，位于所述初始晶圆的边缘的裸芯片中具有测试地址；形成重组晶圆，使得具有所述测试地址的裸芯片位于所述重组晶圆的中部；进行至少一次如下循环步骤，所述循环步骤包括：于所述重组晶圆暴露的当前层上形成保护层，所述保护层至少位于所述测试地址上方；研磨所述重组晶圆中未被所述保护层覆盖的所述当前层；去除所述保护层和所述保护层下方残留的所述当前层；判断所述测试地址是否暴露，若否，则以暴露的所述下一层作为下一次循环步骤的当前层。本发明能够使得测试地址能够完整、平坦的暴露，减少甚至是避免了栅极本体的漏电问题。
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本发明提供一种半导体失效分析样品的制备方法，其包括如下步骤：沿预设方向，在待分析样品的选定区域表面形成多个分裂点，所述分裂点呈一条直线排列；以所述分裂点所在直线为分裂线，分裂所述待分析样品，暴露出所述待分析样品的侧面截面，形成所述半导体失效分析样品。本发明在待分析样品表面形成分裂点，以所述分裂点为分裂起始处，进行分裂操作。采用本发明的制备方法能够制备出结构尺寸准确的失效分析样品，并且能够在低成本的前提下，提高制样成功率，且不会破坏样品。
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本申请实施例提供了一种锂电池失效分析方法、装置、电子设备和存储介质，其中，锂电池的正极材料为NCA，负极材料为硅碳。该方法包括：根据失效锂电池的电池容量与电压的一阶导数曲线及新的锂电池的电池容量与电压的一阶导数曲线，计算失效锂电池正极材料的衰减率及负极材料的衰减率；并对正极材料的衰减率及负极材料的衰减率进行分析，即可获得失效锂电池在快速充电及放电过程中电池容量减少的原因，其中，失效锂电池通过对另一新的锂电池循环第一预设次数的快速充电及放电得到，在分析出NCA正极+硅碳负极电池的失效原因后，便于为电池设计人员对电池的设计和改进提供理论依据。
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本发明公开了一种汽车用高强度钢材撞击失效分析判定方法，包括步骤：S1、获取试验材料的弹塑性力学性能数据；S2、进行仿真分析；S3、根据仿真分析结果判定试验材料是否存在失效风险；S4、对试验材料进行试验，获得试验材料在不同应力状态下的断裂试验数据，根据断裂试验数据标定仿真参数，开展失效分析；S5、得出判定断裂结论；S6、优化车身结构；S7、进行整车试验。本发明的汽车用高强度钢材撞击失效分析判定方法，采用GISSMO应力三轴参数分析方法，可以同时反应体积和形状参数的变化，可以提升分析结果与实际工况一致性的判定，可以提高结果判定准确度。
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本申请涉及一种失效分析方法、计算机设备和存储介质。失效分析方法包括：获取目标芯片颗粒内的各IO通道的失效数据，目标芯片颗粒包括m个物理模块，各物理模块包括若干IO通道，m为大于等于2正整数；将失效数据进行拆分，形成对应各物理模块的m组模块失效数据；根据各模块失效数据，判定各物理模块的局部失效类型；根据各物理模块的局部失效类型，判定目标芯片颗粒的存储失效类型。本申请能够有效提高失效分析效率。
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本发明提供一种逻辑芯片漏电失效分析方法，属于半导体制造技术领域，逻辑芯片漏电失效分析方法包括：提供一设置有至少两个栅极结构的晶体管结构的测量样品，所述测量样品中的晶体管结构存在亮电压对比缺陷；通过给一部分的所述栅极结构施加工作电压，并给剩余部分的所述栅极结构提供0电压，以对所述测量样品进行纳米探针电性测试，从而定位出所述晶体管结构具体的漏电失效位置，实现了逻辑芯片漏电失效分析时的精确定位，其有利于找到引起漏电失效问题的真因，从而有利于在制程优化时得到有效的优化方法。
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本发明公开了一种芯片可持续失效分析方法，包括：1)将对准卡(3)套设于芯片(2)的外部并将所述芯片(2)固定于所述基座(1)；2)将针托架(4)上测试针的一端设置于所述芯片(2)的顶部，接着将缓冲框(5)覆盖所述对准卡(3)的顶部以使得所述测试针、对准卡(3)相接触，然后将所述测试针的另一端通过连接孔(6)固定于所述基座(1)上；3)将缓冲垫(7)分布于所述缓冲框(5)的两侧，接着将固定卡(8)设置于缓冲垫(7)的顶部以使得所述缓冲垫(7)固定于所述基座(1)的顶部。该芯片可持续失效分析方法能够重复地对芯片进行失效分析，同时成本低。
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本实用新型公开了TSV圆片级封装MEMS芯片的失效分析装置，该装置由显微镜、反光盒和探针系统组成；反光盒由外壳、反光镜和透明玻璃组成，反光镜包括两个互成90°角的左反光镜和右反光镜，左反光镜和右反光镜都是镜面朝上地置于外壳中，左反光镜和右反光镜与外壳底面夹角都为45°，透明玻璃覆盖在外壳顶部开口处；探针系统包括探针、探针臂和探针座，探针通过探针臂与探针座连接，探针上连接导线，导线与测试装置或电源连接；反光盒置于显微镜的载物台上，显微镜的物镜位于反光盒上方。该装置只需特制一个反光盒，利用反光盒内反光镜改变光线的方向，不需要背面显微镜镜头，就可以观察到MEMS结构的运动情况，分析MEMS芯片的失效机理，结构简单，效果好。
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本发明涉及产品或过程的失效分析技术领域，具体涉及一种实现功能和失效关联的FMEA分析方法，包括如下步骤：输入上级要求并界定分析的范围和目的；创建产品“结构树”，并生成产品“结构树”的功能；利用功能失效矩阵识别功能间的上下级传递关系并关联，生成功能网；在已识别的功能关联基础上识别失效内容并关联，生成失效网；根据功能和失效关联后完成风险分析和优化；输出基于功能和失效关联的DFMEA结果。本发明使得逻辑清晰且操作简单。
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本公开提供了一种产品失效知识库建立方法与产品失效分析方法、装置、设备、介质，属于计算机技术领域。该产品失效知识库建立方法包括：获取多组失效产品数据，包括设计数据、工艺数据与缺陷数据；根据设计数据和/或工艺数据对失效产品数据进行聚类，得到多个失效类别；分别对各失效类别的缺陷数据进行随机性检验，以确定失效类别为随机失效模式或非随机失效模式；对各非随机失效模式的失效产品数据进行关联规则挖掘，得到各非随机失效模式的失效根因数据；根据各失效类别的随机失效模式/非随机失效模式分类结果与各非随机失效模式的失效根因数据，建立产品失效知识库。本公开可以实现对未知失效模式的分析，并提高分析效率。
本发明公开了TSV圆片级封装MEMS芯片的失效分析装置及其分析方法，该装置由显微镜、反光盒和探针系统组成；反光盒由外壳、外壳中两个互成90°的反光镜和外壳顶部开口处的透明玻璃组成，反光镜与外壳底面夹角为45°；探针系统包括探针、探针臂和探针座，探针通过探针臂与探针座连接，探针上连接导线，导线与测试装置或电源连接。该装置利用反光镜改变光线方向，不需背面镜头，就可以用于分析MEMS芯片的失效机理，结构简单，效果好。本发明的分析方法为：将待分析MEMS芯片放置在透明玻璃上，在压焊块上扎上探针；通过导线向MEMS结构输入激励电压；通过显微镜观察MEMS结构的响应判断MEMS器件的失效机理。该方法操作简单，能够快速、准确地对待分析MEMS芯片进行失效分析。
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本发明涉及基于大数据分析的设备失效模式诊断特征参量分析方法。本发明先通过检验样本获得设备的失效或故障模式，进一步通过极大似然估计后的函数f对特征参数求偏导数，通过偏导数绝对值的大小来判定特定失效或故障模式中不同特征参数的重要度。即通过对偏导数绝对值进行排序，就可以识别出设备失效或故障模式的关键特征参量，这为开展设备的失效或故障模式诊断指明了方向。
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本发明公开了一种失效芯片的分析方法，属于芯片检测领域。所述解封方法包括：裁剪部分失效芯片，以减少所述失效芯片上封装膜的表面积；将所述失效芯片放置于第一酸性溶液内，所述第一酸性溶液的温度为20℃~60℃；所述封装膜去除后，将所述失效芯片放置于第一有机溶剂中清洗；将所述失效芯片放置于第二酸性溶液内；对所述第二酸性溶液进行加热，且加热温度为50℃~150℃；将所述失效芯片放置于第二有机溶剂中清洗；以及将所述失效芯片置于显微镜下进行检测。通过本发明提供的一种失效芯片的分析方法，可提高失效芯片的分析可靠性。
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