全部
▼
热搜：
1032
0
本实用新型公开了一种气固两相流测速管,解决了固体颗粒会把测压孔堵塞而失效影响速度测量的问题。其特征在于在全压管头部为直管弯至与轴线呈45度角后沿轴方向顺管壁切去弯头部的形状,尾部加工成渐缩式燕尾槽形状;静压管头部为沿轴线垂直方向切齐后的形状,尾部为加工成燕尾槽后再把直管弯曲成30-60度角的形状。本实用新型可有效避免颗粒堵塞,结构简单、实用,可适用于各行业中有关气固两相流的流量测量。
808
0
本公开提供一种用于预测PMOS元件NBTI寿命的半导体元件测试方法与半导体元件测试系统。半导体元件测试方法包括：提供多个相同的PMOS元件；在预设温度下对第n个所述PMOS元件的栅极多次施加时长不同的第n个预设负偏压，以获取多个预设负偏压下多个施压时长对应的所述PMOS元件的漏极饱和电流老化率；将多个所述漏极饱和电流老化率带入预设方程以确定所述预设方程的拟合结果，获取对应于施压值和施压时长的漏极饱和电流老化率变化曲线；根据所述漏极饱和电流老化率变化曲线确定所述PMOS元件在标准工作电压下漏极饱和电流老化率达到预设失效值时对应的时间。本公开提供的半导体元件测试方法可以提高测试PMOS元件NBTI寿命的效率和准确度。
1055
0
一种芯片测试参数异常的侦测方法、存储介质、终端，所述方法包括：获取当前批次芯片的第一测试参数；根据所述第一测试参数计算所述当前批次芯片的边缘芯片比例，其中，所述边缘芯片比例为所述当前批次芯片中边缘芯片的占比，所述边缘芯片是所述第一测试参数的数值落入合格范围但超出边缘范围的芯片；当所述边缘芯片比例与基准边缘芯片比例之差大于第一预设提示值时，确定侦测到芯片测试参数异常，其中，所述基准边缘芯片比例与所述预设测试项相对应。通过本发明方案能够实现对芯片测试参数异常的自动侦测和推送，以在实际出现Bin失效前，提前预警芯片可靠性问题以及生产工艺和测试环节可能存在的问题。
1196
0
一种智能防雷在线监测预警装置。本发明采用雷电波形再现技术，通过罗氏线圈和雷电定位系统采集信息以及特定的逻辑运算实现了对雷电这种看得见摸不着的能量真正意义上的再现，并且本发明结构新颖，抗干扰能力强，能对自身采集来的数据及上传来的数据进行智能分析，可实现直击雷预警，对雷电进行预判，以及对故障隐患进行预警和告警，实现有效的在雷击发生之前提前预警、雷电设施是否失效，达到提前介入、提前预案，减少不必要的损失和伤害；在雷击发生时实现雷击数据记录，防雷措施是否有效监控，雷击发生之后实现提供损坏位置，损坏原因数据输出等，也为今后防雷措施的研究和调整做到有的放矢的打下了坚实基础。
831
0
本发明提供一种GOI测试电路结构，包括形成于一衬底内的多个呈条状且平行设置的AA区，相邻的AA区之间形成有STI，衬底上依次形成有栅氧化层、多晶硅栅极和多个计数结构，所有计数结构平行设置，每个计数结构对应设置在一个STI上方，每个计数结构靠近一个AA区设置，并用于对AA区中的热点进行定位，可以实现电性测试热点的清晰定位，并为物理剥层以及FIB切截面制备TEM样品时提供热点定位的标准，大大改善了GOI测试失效分析的效率，切中目标位置截面的成功率，还在制程上可实现性强，具有很高的实用价值。
875
0
本发明提出的一种锂离子电池壳体腐蚀的测试方法，包括以下步骤：S1、选取电池，在电池极柱上焊接极耳，然后将电池恒流恒压充电至预设的满电状态，并测试电池的正负极电压、负极与壳体电压值；S2、将电池分为三组，分别进行不同负极壳体电压分析试验、同一负极电压不同倍率充放电循环实验和同一负极壳体电压不同搁置温度实验；S3、根据实验结果统计电池负极与壳体之间的安全电位，并统计不同的充放电倍率与温度对电池壳体腐蚀的作用。本发明通过对选取的电池连接不同阻值的金属膜电阻，使电池的负极壳体电压处于不同梯度范围，有效的模拟失效电池的状态，准确的得出不同负极壳体电压对电池腐蚀的影响，并测试环境温度和充放电循环因素对腐蚀加速的影响。
1195
0
本发明公开了一种基于自振荡回路的电路老化测试方法，其特征是：根据静态时序分析和路径间相关性，选取待测电路中的老化特征通路集合T；保持老化特征通路集合T中各条待测路径上具有奇数次逻辑非，形成自振荡的回路；采用固定型故障的测试生成方法，生成测试向量，激发自振荡回路，产生测试电平信号；通过计数器采样自振荡回路，获取电路老化特征值，度量待测电路老化程度。本发明可以以较低的功耗精确度量电路的老化程度，为电路老化失效防护提供准确的依据。
1102
0
本实用新型提供了一种电容测试结构，包括：固定测试电阻，与待测电容第二端连接；至少一个待接入测试电阻，与固定测试电阻串联；至少一个测试保险丝，与待接入测试电阻并联；至少两个焊盘，分别与测试保险丝两端连接；NMOS管，与所述测试电路并联，所述NMOS管的栅极还与待测电容的第二端连接；限流保险丝，与并联后的所述NMOS管和所述测试电路串联，并且接地；以及，限流电阻，连接电源和所述NMOS管；向焊盘施加电流，使得与焊盘连接的测试保险丝熔断以改变测试电路的阻值。在不改变版图设计的情况下，可以变换为多种漏电阈值电流的测试结构，从而对多种不同缺陷或不同类型的待测电容进行失效分析。这样可以节省芯片划片道面积，在测试上也更加灵活。
1172
0
本发明公开了一种测试超高压管式反应器热套端部结构局部应力场的方法，其特征是设置存在有过盈量的反应管与夹套构件；首先将夹套与反应管利用温差法完成装配；再在反应管外侧壁上，位于夹套与反应管相套合的边缘的外侧测点上粘贴电阻应变片；最后采用切割机具将夹套从反应管上剥除，释放反应管上的应力，记录夹套剥除前后各测点上的应变变化，利用应变变化通过计算获得的局部应力场数据。本发明可用于准确获取超高压管式反应器热套端部结构局部应力场数据，为分析超高压聚乙烯管式反应器端部断裂失效原因和基于失效的设计提供参考依据。
750
0
本发明提供的直流源保护装置的自检方法及装置，首先判断当前状态是否满足自检预设条件；若满足，则使能直流源保护装置对其输出电压进行输出限制，并将限制输出标志位置1；延时第一预设时长后，判断当前直流源保护装置的输出电压是否小于预设限制值；若当前直流源保护装置的输出电压小于预设限制值，则判断直流源保护装置正常；若当前直流源保护装置的输出电压大于等于预设限制值，则判断直流源保护装置失效，并输出报警信号；最终实现了对于直流源保护装置的自检；且直流源保护装置位于用电设备的外部时，通过上述方法同样能够实现对于直流源保护装置的自检，解决了现有技术的问题。
781
0
本申请公开了一种异常温度测试数据的确定方法、装置及电子设备，属于半导体生产检测技术领域，其中，异常温度测试数据的确定方法包括：获取晶圆连续测试过程中的夹具温度数据；根据所述夹具温度数据计算相邻两次测试的夹具温度变化值；基于所述温度变化值确定异常温度测试数据。该方法可以准确地确定异常的夹具温度测试数据，进而可以剔除温度异常的测试项使得晶圆的寿命失效率分析更加准确。
本申请公开了一种基于马尔科夫链的实验室用电测量设备测试策略评价方法、电子设备及存储介质，属于电测量设备智能检测技术领域。为了解决如何从真实的检测环境中挖掘出未知类型的检测步骤的问题，本申请利用马尔科夫链生成随机测试链，采用公共子串和公共子序列构建电测量设备新产品的被激活的测试策略片段，经组合后形成可执行的测试策略，从而模拟应对未知类型的检测步骤场景，从真实的检测环境中，挖掘出未知类型的检测步骤，能够更有效地发现并消除软件运行缺陷，满足用户的使用需求，实行测试方案以检测电测量设备在工作过程中发现失效故障，最终使电测量设备的可靠性得到持续提高。
767
0
本发明公开了一种在线监测三电平逆变器中功率开关器件的系统及方法。该系统及方法包括：通过对NPC逆变器中电流流通路径判断出三相桥臂中十二个功率开关器件的开关状态，在每周期内微调PWM波形，以供选择合适测量时间段，在正常工况下进行检测工作；外部辅助电源单元，在上述检测时段内对被测器件注入两种幅值的电流，同时数据采集单元分别测得IGBT功率器件和其反并联二极管通态压降；分析可靠性单元将测得电压作为温敏电气参数，生成导通压降和结温关系图作校准曲线，将获得的结温和通态压降做成基准查阅表。在线监测高电流下器件导通压降增幅超过阈值，即可认定该IGBT器件内部发生键合引线失效。依次获取各器件健康状态，得到整个逆变器可靠性检测结果。
907
0
本发明提供了一种存储芯片测试电路装置以及方法，第一存储阵列输出的第一测试数据通过第一压缩电路进行压缩，生成第一压缩数据。第二存储阵列输出的第二测试数据通过第二压缩电路进行压缩，生成第二压缩数据。利用第三压缩电路对第一压缩数据和第二压缩数据进行再次压缩，生成第三压缩数据。不仅可以将生成的第一压缩数据输出，还可以通过多路复用器选择输出第二压缩数据和第三压缩数据中的一种。不仅能够得到存储芯片是否失效的检测结论，还可以得到存储芯片中第一存储阵列以及第二存储阵列失效的检测结论，精确定位失效位置。测试机通过连接一个端口能够得到存储芯片以及存储阵列的失效情况，提高了测试效率。
860
0
本申请涉及一种针测卡异常判断方法及装置。针测卡异常判断方法通过获取各量测单元中在相同测试位置的芯片的单元失效率，并判断各量测单元在相同测试位置的芯片的单元失效率是否分别满足第一异常条件。若各量测单元在相同测试位置的芯片的单元失效率满足第一异常条件，则判断满足第一异常条件的各量测单元之间的测试顺序是否满足第二异常条件。若满足第一异常条件的各量测单元之间的测试顺序满足第二异常条件，则判定针测卡异常。上述针测卡异常判断方法可以结合各量测单元中在相同测试位置的单元失效率以及第一异常条件和第二异常条件，实现对针测卡的异常情况的监控和分析，从而可以及时对针测卡进行检修，减少因测试不良导致的良率损失。
1050
0
本发明实施例提供一种机台插槽的异常侦测方法、修复方法和异常侦测系统。机台包括多个插槽，插槽用于检测芯片，异常侦测方法包括：获取第一失效率，第一失效率为过去的第一时间段内每一插槽检测的芯片的失效率；根据所有第一失效率，计算异常值；获取第二失效率，第二失效率为过去的第二时间段内的每一插槽检测的芯片的失效率；第二时间段小于第一时间段，且第二时间段在第一时间段内；将第二失效率大于或等于异常值的插槽标记为目标插槽，将第二失效率小于异常值的插槽标记为对照插槽；检验第二时间段内每一天的目标插槽与对照插槽的失效率的差异的显著性程度。本发明实施例能够减小在侦测异常插槽时出现的误差。
791
0
本发明公开了一种介质层可靠性测试结构及测试方法，属于半导体技术领域，所述介质层可靠性测试结构包括：衬底，其上设置多个有源区；至少一个待测试介质层，设置在所述有源区上；多晶硅层，设置在所述待测试介质层上；辅助金属结构，设置在所述多晶硅层上，且所述辅助金属结构将所述多晶硅层区分为多种不规则的区域；以及辅助多晶硅结构，设置在所述衬底上，且环绕所述多晶硅层设置。通过本发明提供的一种介质层可靠性测试结构及测试方法，可提高失效分析的准确率和效率。
1005
0
本发明提供一种电力变换装置及其功率半导体器件健康状态自检方法，该方法，包括：在待测功率半导体器件所在的模块满足健康状态检测条件时，获取待测功率半导体器件的结温，然后驱动待测功率半导体器件导通，并控制待测功率半导体器件流过检测电流，同时检测待测功率半导体器件的导通压降，得到导通压降的检测值；若导通压降的检测值与导通压降的理论值之间的差值大于等于阈值，则判定待测功率半导体器件出现封装失效现象；进而实现了对于待测功率半导体器件的健康状态自检测，避免了功率半导体器件发生封装失效现象所造成的IGBT器件的故障运行和整机运行崩溃的问题。
814
0
一种根据设备风险等级确定设备检验周期的方法，S1、确认待检设备是否进行过首检，若没有则进行首检，若进行了首检，则转入S2；S2、通过以下公式确定待检设备各个部件的检验周期修正系数ai＝FRi×FCi×FM×FL；S3、确认待检设备的腐蚀机理，并计算待检设备的合理检验周期；本发明的有益效果是：根据API581标准对设备开展风险评估，评估结果包括管理水平分值、设备各个部件失效概率及失效后果、设备损伤(应力腐蚀开裂、高温氢损伤)敏感性等，结合设备的检验检测结果制定设备合理的检验周期。
813
0
本发明公开了绝缘子自动涂胶和视觉检测专机，包括工作台以及支架，支架的下端设有液压杆，液压杆下端设有夹爪，绝缘子通过夹爪夹取，工作台上设有喷胶机，喷胶机设有喷嘴，绝缘子通过喷嘴上胶，工作台上端放置有基板，夹爪的爪臂上方设有连接块，连接块的下端开设有一号凹槽，一号凹槽内固接有微型电机，微型电机的输出端与夹爪的爪臂连接，连接块的上端固接有卡块，液压杆的下端固接有水平板，水平板下端的一对称侧壁均固接有纵板，纵板的下端内壁均固接有凸条，水平板、纵板以及凸条之间形成卡槽，卡块与卡槽配合。本发明可以提高绝缘子在与基板孔胶结过程中的工作效率以及工作可靠性，并降低了产品的失效概率。
868
0
本发明涉及线路在线绝缘检测装置的绝缘子，其材料成分以重量份计，配方由如下组分组成：氧化铝3-7份、耐蚀树脂10-26份、氧化钠2-3份、硫酸钡粉4-7份、氧化钾2-4份、氧化钡6-9份、氢氧化镁4-9份、二氧化硅3-12份、氢氧化铝4-6份、氧化铁粉末4-9份、纳米氧化锌2-8份和白刚玉3-5份。本发明不会由于环境和电负荷条件发生变化而导致各种机电应力而失效的现象发生，从而延长整条线路的使用和运行寿命。
822
0
本申请公开了一种多输入Boost电路及其故障检测方法，以避免因上管或下管关断失效造成母线电容过压击穿。该方法包括：判断多输入Boost电路输出的正、负母线电容电压之差的绝对值|VC1‑VC2|是否大于第一阈值，若是，控制各路对称Boost电路直通并且对后级电路进行处理，所述处理为封波处理或者断开与后级电路的连接。
927
0
本发明公开了一种用于自动挡汽车的车速方向检测方法，在自动挡汽车上，换挡杆属于基本标配，同时考虑安全性ABS系统也是作为法规要求的强制配置项，因此可以在不增加任何成本前提下，即摒弃添加额外的转速传感器的前提下，仅由换挡杆位置信号、车速信号以及ABS的轮速传感器提供的轮速方向信号，便可以可靠、精确地判定出当前车速方向，进而可以万无一失地确定出车辆的运行方向，并由此进行选挡及扭矩匹配等基本的车辆控制。本发明可以显著降低额外硬件产生的成本，并能够有效解决轮速方向信号中的一个或多个失效后车辆无法判断车速方向的问题，同时也可以避免在陡坡或冰雪路面由于车轮打滑出现的车速方向误诊断的问题。
826
0
本发明公开了一种基于边缘检测误差扩散算法的潜像边界改进方法，包括如下步骤：步骤(1)、输入目标图像并分色；步骤(2)、调幅加网；步骤(3)、得到隐藏信息的潜像；步骤(4)、在隐形通道的半色调图中调整潜像边界和内部的网点，包括一次调整和二次调整；合成得到嵌入有隐藏信息的目标图像的半色调图。本发明采用潜像边界上网点的差值动态的获得误差分散系数，按照系数量化灰度值的误差并向周围的网点分散处理，将隐藏信息的轮廓特征和误差的分散联系在一起，可以有效的改善隐藏信息轮廓显现导致防伪失效的问题。
1149
0
本实用新型属于电子控制技术领域，提供了一种电池密封性检测系统，包括：电源、压力传感器、处理器、存储器和提示器，其中，压力传感器、存储器和提示器分别与处理器相连，电源分别为压力传感器、处理器和存储器供电。由于压力传感器设置在待测电池的上壳体和下壳体之间，可以采集上壳体和下壳体之间的压力信息，处理器可以将接收的压力信息转换为压力值，然后根据压力值及失效压力阈值判断电池密封性是否合格，如果否，则控制提示器进行提示。这样就使得本实用新型可以实时在线监控电池系统的密封性。
1051
0
本申请提供了一种电机驱动器的电压参数检测装置及电机驱动器，该装置通过两个独立的采样模块从不同的采样端采集电机驱动器的输入电压；而且，两个独立的采样模块分别通过两个独立的供电电源供电，避免由于供电电源相同导致的采样模块共同失效。控制器通过两个不同的端口接收采样模块采集得到的两个输入电压采样信号，实现两路采样信号的解耦，避免由于接收采样信号的端口相同导致的共因失效。控制器对两个输入电压采样信号进行校验，当确定输入电压采样信号不准确时，经由输出端口输出关断控制信号，以控制电机驱动器停止扭矩输出，从而避免电机驱动器的输出扭矩失控的现象发生。
926
0
本实用新型公开了用于铸铁件检测的光学敏感件，包括光学敏感件本体、上壳体、下壳体以及透明板；所述上壳体和下壳体拆卸式连接；所述光学敏感件本体设置于上壳体和下壳体之间；所述上壳体上设置有供扫描线穿过的开口；所述透明板罩设在开口上；所述下壳体上设置有磁铁。本实用新型的用于铸铁件检测的光学敏感件，上壳体和下壳体拆卸式设置，可以更好地清理吸附的铁屑、钢丸等杂质，增加使用寿命；部件损坏或失效后，只需更换损坏部位即可继续使用，增加了使用的灵活性，节约资源，减少经济损失。
1139
0
本实用新型公开了一种血液检测用采样运输装置，包括外箱体，所述外箱体内腔底部固定连接有复数个缓冲减震装置，所述缓冲减震装置远离外箱体内腔底部的一侧固定连接有支撑板，所述支撑板顶部中间位置固定连接有放置槽，所述放置槽内表面滑动连接有采样箱，所述外箱体内腔两侧内壁位于采样箱的位置均固定连接有保护装置，所述外箱体内腔两侧内壁顶部固定连接有支撑隔板，所述支撑隔板顶部左侧固定连接有控制器，所述支撑隔板顶部中间位置固定连接有往复装置，所述往复装置底部固定连接有制冷器，本实用新型涉及血液检测技术领域。可以有效避免震动对血液的影响，并保证血液保存的温度，避免血液失效，保证细胞活性，有利于血液的有效使用。
1100
0
本发明提供了一种双驱动管道检测机器人，包括前后连接的两个小车，两个小车采用轮式或履带式的前进形式，其中一个小车上设有横向伸缩装置，所述横向伸缩装置的一端与另一个小车连接，两个小车上还分别设置有竖向伸缩装置，所述竖向伸缩装置的伸缩端能够向上伸出小车。本发明，通过设置两个小车，并在其中一个小车上设置横向伸缩装置，在两个小车上分别设置竖向伸缩装置，利用各伸缩装置在管道检测机器人打滑时，推动管道检测机器继续行进，解决了现有技术中因打滑而导致的驱动失效的现象，行进方式更为可靠，有效避免了管道检测机器人困在管道内的事件发生。
中冶有色为您提供最新的安徽合肥有色金属理论与应用信息，涵盖发明专利、权利要求、说明书、技术领域、背景技术、实用新型内容及具体实施方式等有色技术内容。打造最具专业性的有色金属技术理论与应用平台！
2025年07月09日 ~ 11日 
2025年07月11日 ~ 13日 
2025年07月16日 ~ 18日 
2025年07月16日 ~ 18日 
2025年07月17日 ~ 19日 
